一、项目概况
(一)项目编号:*(二)项目名称:全自动金相显微镜(材料缺陷分析用)(三)项目内容及需求:
1.数量:1台。
2.交期:60日历天。
(1)对半导体晶片材料进行表面缺陷测试,测试全程无损(2)电动功能转换模块,支持反射光明场、高级暗场、微分干涉观察模式(3)进口高精度正置式XYZ三轴电动载物台,电动六孔物镜转换盘(4)具有RCP测量(包括自动聚焦、自动拼图)功能(5)图像数据处理具备颗粒度提取及密度计算功能,需具有颗粒分割、人工二次筛选、去边缘粘连、去碎屑毛刺等缺陷提取优化功能(6)200X下拍摄的50mm*50mm样品的需要能正常完成自动拍摄拼图及数据分析,有数万张图像的拼接处理能力及数百万颗缺陷的批量自动计数和参数计算能力二、资格要求(一)必须符合《政府采购法》第二十二条规定的条件:
1.具有独立承担民事责任的能力。
2.具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度。
6.需提供参加本项目投标活动前三年内,在经营活动中无重大违法、违规记录、重大安全生产事故的声明。7.未被列入“信用中国”网站(http://**.cn )失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、政府采购严重违法失信行为记录名单和“中国政府采购网”(http://**.cn )政府采购严重违法失信行为记录名单,提供网上查询结果记录(查询日期在发布公告之后),截图打印。
(二)特定资格要求:
1.参与企业必须为货物的生产厂家或代理商(从事行业经验不少于1年),代理商必须持有生产厂家代理证书(代理时间不少于1年)。三、供应商报名资料递交截止时间和地点(一)截止时间:** 17:30(二)地点: (略) 东湖技术开发区黄龙山南路6号四、联系事项
五、监督电话
一、项目概况
(一)项目编号:*(二)项目名称:全自动金相显微镜(材料缺陷分析用)(三)项目内容及需求:
1.数量:1台。
2.交期:60日历天。
(1)对半导体晶片材料进行表面缺陷测试,测试全程无损(2)电动功能转换模块,支持反射光明场、高级暗场、微分干涉观察模式(3)进口高精度正置式XYZ三轴电动载物台,电动六孔物镜转换盘(4)具有RCP测量(包括自动聚焦、自动拼图)功能(5)图像数据处理具备颗粒度提取及密度计算功能,需具有颗粒分割、人工二次筛选、去边缘粘连、去碎屑毛刺等缺陷提取优化功能(6)200X下拍摄的50mm*50mm样品的需要能正常完成自动拍摄拼图及数据分析,有数万张图像的拼接处理能力及数百万颗缺陷的批量自动计数和参数计算能力二、资格要求(一)必须符合《政府采购法》第二十二条规定的条件:
1.具有独立承担民事责任的能力。
2.具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度。
6.需提供参加本项目投标活动前三年内,在经营活动中无重大违法、违规记录、重大安全生产事故的声明。7.未被列入“信用中国”网站(http://**.cn )失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、政府采购严重违法失信行为记录名单和“中国政府采购网”(http://**.cn )政府采购严重违法失信行为记录名单,提供网上查询结果记录(查询日期在发布公告之后),截图打印。
(二)特定资格要求:
1.参与企业必须为货物的生产厂家或代理商(从事行业经验不少于1年),代理商必须持有生产厂家代理证书(代理时间不少于1年)。三、供应商报名资料递交截止时间和地点(一)截止时间:** 17:30(二)地点: (略) 东湖技术开发区黄龙山南路6号四、联系事项
五、监督电话