高性能存储器、处理器等复杂器件测试程序开发招标公告
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高性能存储器、处理器等复杂器件测试程序开发招标公告
一、采购清单
可靠性/测试性/维修性
二、主要内容
| 标题： | 高性能存储器、处理器等复杂器件测试程序开发 | ||
| 场次号： | XJ* | 询价开始时间： | ** 14:00:00 |
| 询价结束时间： | ** 14:10:00 | 参与方式： | 定向询价 |
| 出价方式： | 一次性出价 | 操作员： | 田伟冬 |
| 联系人： | 田伟冬 | 联系方式： | 010-* |
| 付款方式： | 验收合格付款 | 附件： | 详见航天电子采购平台 |
| 备注： | |||
| 产品名称 | 产品标准 | 型号 | 规格 | 质量等级 | 封装形式 | 产品批次 | 备注 | 采购数量 | 最少供应量 | 到货日期 |
| 处理器 测试程序开发 | / | PIC18F458-IPT | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| 处理器 测试程序开发 | / | MSP430F2012IPW | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| FLASH 测试程序开发 | / | S29GL01GT11FHIV20 | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| FLASH 测试程序开发 | / | S29JL064J70TFI000 | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| 总线控制器 测试程序开发 | / | PCA9538APW | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| e-MMC 测试程序开发 | / | MTFC32GAKAEDQ-AIT | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| SRAM存储器 测试程序开发 | / | IS46TR16512BL-107MBLA2 | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| SRAM存储器 测试程序开发 | / | IDT7132SA35CB | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| SRAM存储器 测试程序开发 | / | IS64LV51216-12TLA3 | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| SRAM存储器 测试程序开发 | / | IS42S32160F-7BLI | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| SRAM存储器 测试程序开发 | / | IS61WV51216EDBLL-10BLI | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| FLASH 测试程序开发 | / | AM29LV040B-70JI | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| FLASH 测试程序开发 | / | MT29F32G08ABAAAWP | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| FLASH 测试程序开发 | / | S29AL016J70BFI010 | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| EEPROM 测试程序开发 | / | HN58C1001T-15 | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| EEPROM 测试程序开发 | / | AM27C128-90DI | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| FLASH 测试程序开发 | / | MBM29LV800TA-7PFTN | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| SDRAM | / | IS42S16160C-7TLI | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| EEPROM 测试程序开发 | / | CAT25256VI | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| EEPROM 测试程序开发 | / | AT25128AN-10SU-2.7 | / | 1.0次 | 1.0次 |
三、响应方式
有意参加本项目的企业，请与本公告截止时间之前登录航天电子采购平台（http://**）与该项目采购人员联系。按照采购单位要求在提交截纸时间前提交询价响应文件，未按要求提交的视为无效响应。
一、采购清单
可靠性/测试性/维修性
二、主要内容
| 标题： | 高性能存储器、处理器等复杂器件测试程序开发 | ||
| 场次号： | XJ* | 询价开始时间： | ** 14:00:00 |
| 询价结束时间： | ** 14:10:00 | 参与方式： | 定向询价 |
| 出价方式： | 一次性出价 | 操作员： | 田伟冬 |
| 联系人： | 田伟冬 | 联系方式： | 010-* |
| 付款方式： | 验收合格付款 | 附件： | 详见航天电子采购平台 |
| 备注： | |||
| 产品名称 | 产品标准 | 型号 | 规格 | 质量等级 | 封装形式 | 产品批次 | 备注 | 采购数量 | 最少供应量 | 到货日期 |
| 处理器 测试程序开发 | / | PIC18F458-IPT | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| 处理器 测试程序开发 | / | MSP430F2012IPW | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| FLASH 测试程序开发 | / | S29GL01GT11FHIV20 | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| FLASH 测试程序开发 | / | S29JL064J70TFI000 | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| 总线控制器 测试程序开发 | / | PCA9538APW | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| e-MMC 测试程序开发 | / | MTFC32GAKAEDQ-AIT | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| SRAM存储器 测试程序开发 | / | IS46TR16512BL-107MBLA2 | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| SRAM存储器 测试程序开发 | / | IDT7132SA35CB | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| SRAM存储器 测试程序开发 | / | IS64LV51216-12TLA3 | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| SRAM存储器 测试程序开发 | / | IS42S32160F-7BLI | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| SRAM存储器 测试程序开发 | / | IS61WV51216EDBLL-10BLI | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| FLASH 测试程序开发 | / | AM29LV040B-70JI | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| FLASH 测试程序开发 | / | MT29F32G08ABAAAWP | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| FLASH 测试程序开发 | / | S29AL016J70BFI010 | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| EEPROM 测试程序开发 | / | HN58C1001T-15 | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| EEPROM 测试程序开发 | / | AM27C128-90DI | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| FLASH 测试程序开发 | / | MBM29LV800TA-7PFTN | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| SDRAM | / | IS42S16160C-7TLI | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| EEPROM 测试程序开发 | / | CAT25256VI | / | 1.0次 | 1.0次 | |||||
| EEPROM 测试程序开发 | / | AT25128AN-10SU-2.7 | / | 1.0次 | 1.0次 |
三、响应方式
有意参加本项目的企业，请与本公告截止时间之前登录航天电子采购平台（http://**）与该项目采购人员联系。按照采购单位要求在提交截纸时间前提交询价响应文件，未按要求提交的视为无效响应。
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