半导体器件可靠性试验招标公告

内容
 
发送至邮箱

半导体器件可靠性试验招标公告


一、采购清单

可靠性/测试性/维修性

二、主要内容


标题:半导体器件可靠性试验
场次号:XJ*询价开始时间:** 14:00:00
询价结束时间:** 14:10:00参与方式:定向询价
出价方式:一次性出价操作员:田伟冬
联系人:田伟冬联系方式:010-*
付款方式:验收合格付款附件:详见航天电子采购平台
备注:

产品名称产品标准型号规格质量等级封装形式产品批次备注采购数量最少供应量到货日期
温度冲击/温度循环试验/AD664TD-BIP/883B、OP215AZ/883等/2000.0只2000.0只
恒定加速度试验/RSW1101HRH、RSS3802QRH等/22000.0只22000.0只
PIND试验/LM119J-QMLV、B26LV31TERHF等/50000.0只50000.0只
塑封器件封装缺陷无损检测/LTC3618IFE、OPA356AIDBVT等/44000.0只44000.0只
密封性试验/RSS0508HRH、C41113RHU等/56000.0只56000.0只

三、响应方式

有意参加本项目的企业,请与本公告截止时间之前登录航天电子采购平台(http://**)与该项目采购人员联系。按照采购单位要求在提交截纸时间前提交询价响应文件,未按要求提交的视为无效响应。



一、采购清单

可靠性/测试性/维修性

二、主要内容


标题:半导体器件可靠性试验
场次号:XJ*询价开始时间:** 14:00:00
询价结束时间:** 14:10:00参与方式:定向询价
出价方式:一次性出价操作员:田伟冬
联系人:田伟冬联系方式:010-*
付款方式:验收合格付款附件:详见航天电子采购平台
备注:

产品名称产品标准型号规格质量等级封装形式产品批次备注采购数量最少供应量到货日期
温度冲击/温度循环试验/AD664TD-BIP/883B、OP215AZ/883等/2000.0只2000.0只
恒定加速度试验/RSW1101HRH、RSS3802QRH等/22000.0只22000.0只
PIND试验/LM119J-QMLV、B26LV31TERHF等/50000.0只50000.0只
塑封器件封装缺陷无损检测/LTC3618IFE、OPA356AIDBVT等/44000.0只44000.0只
密封性试验/RSS0508HRH、C41113RHU等/56000.0只56000.0只

三、响应方式

有意参加本项目的企业,请与本公告截止时间之前登录航天电子采购平台(http://**)与该项目采购人员联系。按照采购单位要求在提交截纸时间前提交询价响应文件,未按要求提交的视为无效响应。


    
查看详情》
相关推荐
 

招投标大数据

查看详情

收藏

首页

登录

最近搜索

热门搜索