武汉大学2020年08月政府采购意向-3D共聚焦表面粗糙度测量系统
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武汉大学2020年08月政府采购意向-3D共聚焦表面粗糙度测量系统
| 3D共聚焦表面粗糙度测量系统 | |
| (略) 在采购意向： | (略) * 年 * 月政府采购意向 |
| 采购单位： | (略) |
| 采购项目名称： | 3D共聚焦表面粗糙度测量系统 |
| 预算金额： | * . 点击查看>> 万元(人民币) |
| 采购品目： | A 点击查看>> 其他仪器仪表 |
| 采购需求概况： | 主要技术参数：★1、功能要求：支持如下标准的表面轮廓和表面结构参数测定：3D分析符合ISO * 8等标准要求；2D分析符合ISO * 、ISO * 5、ISO * 5、ASME * .1、MBN * * - * 、VDA * 、VDA * 、SEP * 等标准要求。★2、原理：多孔转盘共聚焦★3、光源：高性能LED光，MTBF： * , * 小时4、物镜放大倍数：5倍 - * 倍★5、最大测量样品高度：≥ * mm★6、安全保护功能：X/Y/Z轴具备防碰撞检测功能★7、垂直方向扫描范围（Z轴）：5倍物镜时：≥ * .9mm8、计算最大角度： * 倍物镜时：≥ * .8°9、测量噪点：≤ 1纳米 * 、垂直方向分辨率：精细定位单元：≤2纳米★ * 、重复性（ * 倍物镜）：标准Ra = 1. * um，重复测量 * 次，标准偏差≤ 4nm标准台阶高度1um，重复测量 * 次，标准偏差≤ 4nm * 、测量范围(X/Y)： * 倍物镜≥0.8×0.8mm； * 倍物镜≥0. * ×0. * mm * 、水平方向分辨率(X/Y)： * 倍物镜≤0. * um； * 倍物镜≤0.3um * 、图像自动拼接：具备连续测量、图像自动拼接功能，且自动拼接图像数量≥ * 张 * 、扫描时间：单张扫描≤3秒 * 、CMOS像素：≥ * × 点击查看>> 、工作台：X、Y、Z * 轴电动调整 * 、 (略) 程：X/Y/ (略) 程 * x * mmx * mm * 、工作台承重：≥ * kG * 、可测量参数：Ra、Rz、Rsk、Rku、Rq、Rp、Rv、Rt、Rc、Rmr、Rdc、RSm、Rpc、Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、APH、AVH、Sk、Smr1、Smr2、Rpk*、Rvk*、Sa、Sz、Sp、Sv、Sq、Ssk、Sku、Smc、Sxp、Vm、Vv、Vmp、Vmc、Vvc、Vvv、Spd、Spc、Sdv、Sda、Sbi、Sci、Svi、FlTt、Sdar、Spar、Smr、Str、Sha等表面粗糙度及形貌参数 * 、工作电源： 点击查看>> VAC， * / * Ｈｚ * 、软件配置：合理 (略) 理软件，操作简便， (略) 理分析功能齐全。除了符合ISO * 线粗糙度标准（经NIST认证）外还符合ISO * 8面粗糙度标准，此外还有欧标、德标等其他标准可调用；软件可选多国语言，包括中文。（免费提供软件测量分析模板功能）； * 、计量：可提供DKD/PTB认证的可溯源的粗糙度标准片（2）主要配件：1.5x物镜1个2、 * x物镜1个3、 * x物镜1个4、 * x物镜1个5、USB 3D-控制器1个6、1μm刻槽深度标准具及PTB证书1套7、MRS 1.5研磨粗糙度标准具及DAkkS /DKD证书1套(3)采购标的数量: * 套(4)采购标的需满足的质量、服务、安全、时限等要求:货期 * 天，至少 * 年质保，厂家工程师可来武 (略) 后期维护。 |
| 预计采购时间： | 点击查看>> |
| 备注： | |
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排， (略) 和采购文件为准。
| 3D共聚焦表面粗糙度测量系统 | |
| (略) 在采购意向： | (略) * 年 * 月政府采购意向 |
| 采购单位： | (略) |
| 采购项目名称： | 3D共聚焦表面粗糙度测量系统 |
| 预算金额： | * . 点击查看>> 万元(人民币) |
| 采购品目： | A 点击查看>> 其他仪器仪表 |
| 采购需求概况： | 主要技术参数：★1、功能要求：支持如下标准的表面轮廓和表面结构参数测定：3D分析符合ISO * 8等标准要求；2D分析符合ISO * 、ISO * 5、ISO * 5、ASME * .1、MBN * * - * 、VDA * 、VDA * 、SEP * 等标准要求。★2、原理：多孔转盘共聚焦★3、光源：高性能LED光，MTBF： * , * 小时4、物镜放大倍数：5倍 - * 倍★5、最大测量样品高度：≥ * mm★6、安全保护功能：X/Y/Z轴具备防碰撞检测功能★7、垂直方向扫描范围（Z轴）：5倍物镜时：≥ * .9mm8、计算最大角度： * 倍物镜时：≥ * .8°9、测量噪点：≤ 1纳米 * 、垂直方向分辨率：精细定位单元：≤2纳米★ * 、重复性（ * 倍物镜）：标准Ra = 1. * um，重复测量 * 次，标准偏差≤ 4nm标准台阶高度1um，重复测量 * 次，标准偏差≤ 4nm * 、测量范围(X/Y)： * 倍物镜≥0.8×0.8mm； * 倍物镜≥0. * ×0. * mm * 、水平方向分辨率(X/Y)： * 倍物镜≤0. * um； * 倍物镜≤0.3um * 、图像自动拼接：具备连续测量、图像自动拼接功能，且自动拼接图像数量≥ * 张 * 、扫描时间：单张扫描≤3秒 * 、CMOS像素：≥ * × 点击查看>> 、工作台：X、Y、Z * 轴电动调整 * 、 (略) 程：X/Y/ (略) 程 * x * mmx * mm * 、工作台承重：≥ * kG * 、可测量参数：Ra、Rz、Rsk、Rku、Rq、Rp、Rv、Rt、Rc、Rmr、Rdc、RSm、Rpc、Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、APH、AVH、Sk、Smr1、Smr2、Rpk*、Rvk*、Sa、Sz、Sp、Sv、Sq、Ssk、Sku、Smc、Sxp、Vm、Vv、Vmp、Vmc、Vvc、Vvv、Spd、Spc、Sdv、Sda、Sbi、Sci、Svi、FlTt、Sdar、Spar、Smr、Str、Sha等表面粗糙度及形貌参数 * 、工作电源： 点击查看>> VAC， * / * Ｈｚ * 、软件配置：合理 (略) 理软件，操作简便， (略) 理分析功能齐全。除了符合ISO * 线粗糙度标准（经NIST认证）外还符合ISO * 8面粗糙度标准，此外还有欧标、德标等其他标准可调用；软件可选多国语言，包括中文。（免费提供软件测量分析模板功能）； * 、计量：可提供DKD/PTB认证的可溯源的粗糙度标准片（2）主要配件：1.5x物镜1个2、 * x物镜1个3、 * x物镜1个4、 * x物镜1个5、USB 3D-控制器1个6、1μm刻槽深度标准具及PTB证书1套7、MRS 1.5研磨粗糙度标准具及DAkkS /DKD证书1套(3)采购标的数量: * 套(4)采购标的需满足的质量、服务、安全、时限等要求:货期 * 天，至少 * 年质保，厂家工程师可来武 (略) 后期维护。 |
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| 备注： | |
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排， (略) 和采购文件为准。
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