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场发射扫描电镜（超高分辨成像与实时元素分析系统）主要由高分辨率成像系统 (略) 元素分 (略) 分组成。高分辨率成像系统主要包括电子光学系统、真空系统、探测器系统、 (略) 系统等。主要应用于观察、分析和记录各类材料的微观形貌，如纳米功能材料的形貌、尺寸测定；石墨烯材料的片层厚度观察；陶瓷粉体及成品分析；另也广泛应用于如金属、复合材料等结构件的失效分析等；通过搭载实时元素分析系统，可以在观察样品微观形貌的基础上，进 * 步实现样品微区成分的定性和定量分析，包含点分析、线分析和面分析等；应用实例比如对某未知样品成分及其含量的判定，掺杂材料和复合材料某元素的分布等；而实时分析功能，可对样品待 (略) 快速确定，提高分析的效率；元素谱图与面分布图实时刷新显示，无需软件间切换，元素分析时，可记录样品预览过的位置，以便随时返回重新分析。

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场发射扫描电镜（超高分辨成像与实时元素分析系统）主要由高分辨率成像系统 (略) 元素分 (略) 分组成。高分辨率成像系统主要包括电子光学系统、真空系统、探测器系统、 (略) 系统等。主要应用于观察、分析和记录各类材料的微观形貌，如纳米功能材料的形貌、尺寸测定；石墨烯材料的片层厚度观察；陶瓷粉体及成品分析；另也广泛应用于如金属、复合材料等结构件的失效分析等；通过搭载实时元素分析系统，可以在观察样品微观形貌的基础上，进 * 步实现样品微区成分的定性和定量分析，包含点分析、线分析和面分析等；应用实例比如对某未知样品成分及其含量的判定，掺杂材料和复合材料某元素的分布等；而实时分析功能，可对样品待 (略) 快速确定，提高分析的效率；元素谱图与面分布图实时刷新显示，无需软件间切换，元素分析时，可记录样品预览过的位置，以便随时返回重新分析。