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* 次离子质谱仪基于其对元素含量的高灵敏度分析，结合主离子枪对材料的深度刻蚀作用，可以研究薄膜电池材料、半导体材料、光电材料、金属薄膜、无机物薄膜材料、纳米物理与器件、清洁能源研究中的元素在空间分布的信息。通过对 (略) 轰击产生的 * 次离子，可以精确定表面元素的构成；通过对分子离子峰和官能团碎片的分析可以方便的确定表面化合物和有机样品的结构；配合样品表面扫描和剥离，可以得到样品表面甚至 * 维的成分图。提供材料表面元素分布，以及元素随深度变化的分布情况，从而为开发钻井液新材料提供可靠的数据支持。

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* 次离子质谱仪基于其对元素含量的高灵敏度分析，结合主离子枪对材料的深度刻蚀作用，可以研究薄膜电池材料、半导体材料、光电材料、金属薄膜、无机物薄膜材料、纳米物理与器件、清洁能源研究中的元素在空间分布的信息。通过对 (略) 轰击产生的 * 次离子，可以精确定表面元素的构成；通过对分子离子峰和官能团碎片的分析可以方便的确定表面化合物和有机样品的结构；配合样品表面扫描和剥离，可以得到样品表面甚至 * 维的成分图。提供材料表面元素分布，以及元素随深度变化的分布情况，从而为开发钻井液新材料提供可靠的数据支持。