A 点击查看>> 其他光学仪器

拟采购 * 台全新椭偏仪，至少 * 年的保修。交货期 * 天。采购宽光谱全穆勒矩阵椭偏仪用于非接触测量不同样品的光学常数，各向异性，薄膜厚度等。实现对光学材料的筛选，以及相关数据库的建立。仪器用途：薄膜厚度测量分析；块材及薄膜的光学常数测量分析；光学常数相关的组分、带隙、结晶度等参数分析；材料旋光特性测试等。仪器技术参数：1，光谱范围： 点击查看>> nm。2，测试间隔： * * - * nm；2. * 点击查看>> nm。3，光斑尺寸：普通光斑4mm直径，微光斑0.3mm直径。4，入射角： * - * 度自动可变，重复性优于0. * 度。5，样品移动： * * * X/Y自动平移，最小步长2.5微米。6，样品对准：自动高度调节， (略) 程 * mm；自动俯仰调节。7，变角度透射测量：- * 到 * 度自动变角透射测量。8，补偿技术：消色差、双旋转补偿。9，探测器：无光纤设计双探测器同时测量。 * ，测试光斑图像定位：2.1X1. (略) ， * mm工作距离。 * ，数据采集及分析软件：提供软件使用许可，软件设计人性化，功能全，涵盖各类色散关系式、样品非理想模拟，包括复杂的各向异性、延迟量、张量、旋光特性等的表征和模拟。 * ，参数测量：Ψ：(0- * °)， Δ：(0- * °)，退偏振，反射率，透过率，穆勒矩阵： (略) 有 * 个归 * 化元（对m * 归 * 化）。 * ，测量时间：单点全光谱测量（标准或穆勒矩阵）最快0.3秒，典型测量时间为1到5秒。 * ，测试准确性：在直射状态下，测量空光束 Ψ： * ± 0. * °、 Δ： 0 ± 0. * °， 退偏振: 0% ± 0.5%， * 个归 * 化穆勒矩阵元 ，对角线: 1 ± 0. * ，非对角线: 0 ± 0. * ， * 秒平均时间测量， * ％的被测波长满足该指标。 * ，测量重复性：膜厚重复性优于0. * nm（ * 次SiO2厚度测量的标准偏差，样品为带有自然氧化层的硅片）。 * ，建模服务：提供快速、 (略) 、专业的光学建模支持。

A 点击查看>> 其他光学仪器

拟采购 * 台全新椭偏仪，至少 * 年的保修。交货期 * 天。采购宽光谱全穆勒矩阵椭偏仪用于非接触测量不同样品的光学常数，各向异性，薄膜厚度等。实现对光学材料的筛选，以及相关数据库的建立。仪器用途：薄膜厚度测量分析；块材及薄膜的光学常数测量分析；光学常数相关的组分、带隙、结晶度等参数分析；材料旋光特性测试等。仪器技术参数：1，光谱范围： 点击查看>> nm。2，测试间隔： * * - * nm；2. * 点击查看>> nm。3，光斑尺寸：普通光斑4mm直径，微光斑0.3mm直径。4，入射角： * - * 度自动可变，重复性优于0. * 度。5，样品移动： * * * X/Y自动平移，最小步长2.5微米。6，样品对准：自动高度调节， (略) 程 * mm；自动俯仰调节。7，变角度透射测量：- * 到 * 度自动变角透射测量。8，补偿技术：消色差、双旋转补偿。9，探测器：无光纤设计双探测器同时测量。 * ，测试光斑图像定位：2.1X1. (略) ， * mm工作距离。 * ，数据采集及分析软件：提供软件使用许可，软件设计人性化，功能全，涵盖各类色散关系式、样品非理想模拟，包括复杂的各向异性、延迟量、张量、旋光特性等的表征和模拟。 * ，参数测量：Ψ：(0- * °)， Δ：(0- * °)，退偏振，反射率，透过率，穆勒矩阵： (略) 有 * 个归 * 化元（对m * 归 * 化）。 * ，测量时间：单点全光谱测量（标准或穆勒矩阵）最快0.3秒，典型测量时间为1到5秒。 * ，测试准确性：在直射状态下，测量空光束 Ψ： * ± 0. * °、 Δ： 0 ± 0. * °， 退偏振: 0% ± 0.5%， * 个归 * 化穆勒矩阵元 ，对角线: 1 ± 0. * ，非对角线: 0 ± 0. * ， * 秒平均时间测量， * ％的被测波长满足该指标。 * ，测量重复性：膜厚重复性优于0. * nm（ * 次SiO2厚度测量的标准偏差，样品为带有自然氧化层的硅片）。 * ，建模服务：提供快速、 (略) 、专业的光学建模支持。