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近红外吸收及稳态瞬态测试系统1套 交货时间 * 天质保1年， 响应时间2小时内， * (略) 。该系统主要由紫外可见分光系统、稳态瞬态测 (略) 分组成，其中稳态瞬态测试系统包 (略) 分，绝对量 (略) 分，荧 (略) 分以及相对应的控制器和软件组成。1. 紫外可见近红外分光系统1分光系统1.1光学系统: 双光束；1.2分光器: 双光栅分光双单色器；预置单色器：凹面衍射光栅分光器；主单色器：象差校正型切尼尔 * 特纳分光器；1.3测定波长范围: * ~ * nm；1.4波长准确性: 紫外、可见区：±0.2；近红外区：±0. * .5波长重复精度: 紫外、可见区：±0. * nm以内；近红外区：±0. * nm以内；1.6波长采样间隔: 0. * ～5nm；1.7光源切换波长: 和波长同步自动切换 * .0 nm~ * .0 nm（0.1nm步进）；1.8分辨率: 0.1nm；1.9测光方式: 双光束测光方式； 1. * 测光类型: 吸光度（Abs），透射率（％）,反射率（%），能量（E）；1. * 测光范围: 吸光度：-6~6 Abs；1. * 光度准确性：±0. * Abs(1Abs) ，±0. * Abs(0.5Abs)，由NIST * D标准滤光镜测试；1. * 光度重复精度：±0. * Abs(0～0.5Abs)，±0. * Abs(0.5～1.0Abs) 1秒计算，5次测定的最大偏差；1. * 漂移：小于0. * Abs/h (电源启动2小时后, * nm，1秒积分) ；1. * 基线校正：计算机自动校正（电源启动时，自动存储备份的基线，可以再校正）2、稳态瞬态测试系统：1. (略) 分1.1系统由光源、参比检测器、反射光路、样品架、单色仪、荧 (略) 分组成。可以测试校正的激发光谱、发射光谱、 * 维光谱、同步扫描光谱、寿命测试，量子效率测试，光度计定量；1.2测试对象：液体、粉末，薄膜以及高散射样品；1.3滤光片不少于8片；1.4单色仪焦长不低于 * mm；1.5信噪比≥ * 0：1（FSD法）1.6波长准确度：±0.2nm，1.7重复性：±0.1nm；1.8检测波长范围： 点击查看>> nm；1.9包含制冷型紫外可见检测器，近红外检测器2.绝对量 (略) 分2.1用于量子产率及发光色度分析；2.2能够完成紫外可见近红外全波段量子产率测量2.3高反射率聚 * 氟 * 烯涂层2.4测量对象：薄膜、粉末和液体；2.5标配原装进口衰减片，不少于6片；2.6耦合激光器测试量子产率，无需光纤耦合，避免光纤造成的能量损失；3.荧

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近红外吸收及稳态瞬态测试系统1套 交货时间 * 天质保1年， 响应时间2小时内， * (略) 。该系统主要由紫外可见分光系统、稳态瞬态测 (略) 分组成，其中稳态瞬态测试系统包 (略) 分，绝对量 (略) 分，荧 (略) 分以及相对应的控制器和软件组成。1. 紫外可见近红外分光系统1分光系统1.1光学系统: 双光束；1.2分光器: 双光栅分光双单色器；预置单色器：凹面衍射光栅分光器；主单色器：象差校正型切尼尔 * 特纳分光器；1.3测定波长范围: * ~ * nm；1.4波长准确性: 紫外、可见区：±0.2；近红外区：±0. * .5波长重复精度: 紫外、可见区：±0. * nm以内；近红外区：±0. * nm以内；1.6波长采样间隔: 0. * ～5nm；1.7光源切换波长: 和波长同步自动切换 * .0 nm~ * .0 nm（0.1nm步进）；1.8分辨率: 0.1nm；1.9测光方式: 双光束测光方式； 1. * 测光类型: 吸光度（Abs），透射率（％）,反射率（%），能量（E）；1. * 测光范围: 吸光度：-6~6 Abs；1. * 光度准确性：±0. * Abs(1Abs) ，±0. * Abs(0.5Abs)，由NIST * D标准滤光镜测试；1. * 光度重复精度：±0. * Abs(0～0.5Abs)，±0. * Abs(0.5～1.0Abs) 1秒计算，5次测定的最大偏差；1. * 漂移：小于0. * Abs/h (电源启动2小时后, * nm，1秒积分) ；1. * 基线校正：计算机自动校正（电源启动时，自动存储备份的基线，可以再校正）2、稳态瞬态测试系统：1. (略) 分1.1系统由光源、参比检测器、反射光路、样品架、单色仪、荧 (略) 分组成。可以测试校正的激发光谱、发射光谱、 * 维光谱、同步扫描光谱、寿命测试，量子效率测试，光度计定量；1.2测试对象：液体、粉末，薄膜以及高散射样品；1.3滤光片不少于8片；1.4单色仪焦长不低于 * mm；1.5信噪比≥ * 0：1（FSD法）1.6波长准确度：±0.2nm，1.7重复性：±0.1nm；1.8检测波长范围： 点击查看>> nm；1.9包含制冷型紫外可见检测器，近红外检测器2.绝对量 (略) 分2.1用于量子产率及发光色度分析；2.2能够完成紫外可见近红外全波段量子产率测量2.3高反射率聚 * 氟 * 烯涂层2.4测量对象：薄膜、粉末和液体；2.5标配原装进口衰减片，不少于6片；2.6耦合激光器测试量子产率，无需光纤耦合，避免光纤造成的能量损失；3.荧