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拟采购购置多功能“拟原位”X射线光电子能谱仪 * 台。能够实现不同形态的金属、非金属、半导体、氧化物和化合物、复合材料、纳米材料以及生物材料的表面几个原子层（1～ * nm厚的表面）的化学组成、价态，深度剖析及成像、功函数特性等的分析与表征；结合高温高压反应池， (略) (略) (略) 理，实现“拟原位”表征。要求设备具有单色化X射线源、独立两室结构、双独立式采谱检测器和成像检测器， (略) 高分辨率、高灵敏度的XPS分析、XPI化学成像分析、角分辨ARXPS分析、ISS离子散射谱分析（适用于同位素鉴定）、REELS反射电子能量损失谱分析（适用于H元素鉴定与半导体材料能带分析）、可以扩展两种荷电中和方式； (略) 极X射线源、AES俄歇电子能谱、UPS紫外光电子能谱、团簇离子刻蚀源、EDS能谱分析、EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析、以及多种原位扩展功能。XPS设备供应商需要具有公认的技术信誉，丰富的知名用户服务经验。 (略) 可以提供且不限于安装调试、设备维护、使用培训、 (略) 多功能拓展等服务， (略) 具有可靠的技术专业性和丰富的经验，可以提供长期平价服务。

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