A 点击查看>> 原子力显微镜

用于研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构，以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。利用力曲线的峰值力做反馈，直接控制针尖对样品的作用力低至 * 皮牛。从而有效减少针尖的磨损，间接地提高成像的分辨率。成像模式对操作者没有经验要求，所有的参数调整均为计算机自动调整，具备全探针扫描技术的扫描器，噪声水平: 开环控制< 0.3? ，闭环控制< 0. * ?（图象测试）；< 0.5?（力测试）；噪音水平: 开环控制< 0.1nm, 闭环控制< 0. * nm；进针方式:系统可实现抬高模式的控制，对于表面磁学，电学特征的表征；力谱线测试模式: 可同时测试表面的力曲线的阵列, 同时得到表面力的谱图, 最大取点密度: * × * 。设备 (略) 范围从 * um ~ * um，CCD像素点 * 万，光学分辨率不低于2um，单条扫描线的采样点不少于 * 0点，样品台为 * mm全自动样品台，具有最新的Peakforce Tapping成像技术，针尖与样品之间的相互作用力可控制到 * pN，横向分辨率较高。功能：接触模式 (Contact Mode)/智能扫描模式( ScanAsyst)/轻敲模式(Tapping Mode, Bruker专利技术)/峰值力轻敲模式（PeakForce Tapping, Bruker专利技术）/相位成像模式（Phase Imaging, Bruker专利技术）/扭转共振模式（Torsional Resonance Mode, Bruker专利技术）/抬起模式 (Lift Mode, Bruker专利技术)电场力显微镜（EFM）/表面电势显微镜（Surface Potential，KFM）磁场力显微镜（MFM）/压电力显微镜（PFM）横向力/摩擦力显微镜 (LFM)力曲线 / 力谱测量（Force curve/ Force volume）；使用指标（1）扫描范围： * μm x * μm x * μm；（2）样品台尺寸： * mm马达自动控制样品台 (实现软件及手柄自动控制,提供数字坐标为参考)；（3）Z方向噪声水平: 开环控制< 0.3? ，闭环控制< 0. * ?（图象测试）；< 0.5?（力测试）。XY方向噪音水平: 开环控制< 0.1nm, 闭环控制< 0. * nm。4）震台： * 体封闭式隔音及防电磁屏蔽装置，气浮防震台，带自动充气泵。

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用于研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构，以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。利用力曲线的峰值力做反馈，直接控制针尖对样品的作用力低至 * 皮牛。从而有效减少针尖的磨损，间接地提高成像的分辨率。成像模式对操作者没有经验要求，所有的参数调整均为计算机自动调整，具备全探针扫描技术的扫描器，噪声水平: 开环控制< 0.3? ，闭环控制< 0. * ?（图象测试）；< 0.5?（力测试）；噪音水平: 开环控制< 0.1nm, 闭环控制< 0. * nm；进针方式:系统可实现抬高模式的控制，对于表面磁学，电学特征的表征；力谱线测试模式: 可同时测试表面的力曲线的阵列, 同时得到表面力的谱图, 最大取点密度: * × * 。设备 (略) 范围从 * um ~ * um，CCD像素点 * 万，光学分辨率不低于2um，单条扫描线的采样点不少于 * 0点，样品台为 * mm全自动样品台，具有最新的Peakforce Tapping成像技术，针尖与样品之间的相互作用力可控制到 * pN，横向分辨率较高。功能：接触模式 (Contact Mode)/智能扫描模式( ScanAsyst)/轻敲模式(Tapping Mode, Bruker专利技术)/峰值力轻敲模式（PeakForce Tapping, Bruker专利技术）/相位成像模式（Phase Imaging, Bruker专利技术）/扭转共振模式（Torsional Resonance Mode, Bruker专利技术）/抬起模式 (Lift Mode, Bruker专利技术)电场力显微镜（EFM）/表面电势显微镜（Surface Potential，KFM）磁场力显微镜（MFM）/压电力显微镜（PFM）横向力/摩擦力显微镜 (LFM)力曲线 / 力谱测量（Force curve/ Force volume）；使用指标（1）扫描范围： * μm x * μm x * μm；（2）样品台尺寸： * mm马达自动控制样品台 (实现软件及手柄自动控制,提供数字坐标为参考)；（3）Z方向噪声水平: 开环控制< 0.3? ，闭环控制< 0. * ?（图象测试）；< 0.5?（力测试）。XY方向噪音水平: 开环控制< 0.1nm, 闭环控制< 0. * nm。4）震台： * 体封闭式隔音及防电磁屏蔽装置，气浮防震台，带自动充气泵。