处理器综合测试系统招标预告
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处理器综合测试系统招标预告
| 处理器综合测试系统 | |
| (略) 在采购意向： | 工 (略) 电 (略) 2022年5至12月政府采购意向 |
| 采购单位： | 工 (略) 电 (略) |
| 采购项目名称： | 处理器综合测试系统 |
| 预算金额： | 点击查看>> 00万元(人民币) |
| 采购品目： | A 点击查看>> (略) 参数测量仪 |
| 采购需求概况： | 一、 (略) 理器综合测试系统：主要用于对CPU、FPGA等超大 (略) ，开展电、热等综合条件下的测试与分析。1.2 招标货 (略) 名称 (略) 理器综合测试系统套1二、技术要求1对CPU、FPGA等超大 (略) ，开展高温老化和逻辑功能测试以及直流参数测试。2 高温箱：支持室温～150℃3环境箱，不少于16个老化板通道；4驱动测试板5可测试的单颗DUT功耗10W以上6系统频率：最高频率可达10MHz7 失效分析检测能力具有自动对焦功能8 配置超声扫描操作与计算分析软件9配置反射发射探头与透射接收探头10配置UPS电源 |
| 预计采购时间： | 2022-06 |
| 备注： | |
| 处理器综合测试系统 | |
| (略) 在采购意向： | 工 (略) 电 (略) 2022年5至12月政府采购意向 |
| 采购单位： | 工 (略) 电 (略) |
| 采购项目名称： | 处理器综合测试系统 |
| 预算金额： | 点击查看>> 00万元(人民币) |
| 采购品目： | A 点击查看>> (略) 参数测量仪 |
| 采购需求概况： | 一、 (略) 理器综合测试系统：主要用于对CPU、FPGA等超大 (略) ，开展电、热等综合条件下的测试与分析。1.2 招标货 (略) 名称 (略) 理器综合测试系统套1二、技术要求1对CPU、FPGA等超大 (略) ，开展高温老化和逻辑功能测试以及直流参数测试。2 高温箱：支持室温～150℃3环境箱，不少于16个老化板通道；4驱动测试板5可测试的单颗DUT功耗10W以上6系统频率：最高频率可达10MHz7 失效分析检测能力具有自动对焦功能8 配置超声扫描操作与计算分析软件9配置反射发射探头与透射接收探头10配置UPS电源 |
| 预计采购时间： | 2022-06 |
| 备注： | |
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