A*物理光学仪器，A*光学测试仪器，A*电子光学及离子光学仪器，A*物理特性分析仪器及校准仪器

纳米尺度原位光电性能测试系统。该系统主要用于各类电子材料、半导体材料、磁性材料在光、电场作用下的纳米原位的表面结构、光学、电学性能研究，这对于分析材料的物理机理提供了很好的技术手段。测试系统具有以下功能：在对样品表面形貌进行高分辨率形貌成像和表面电势成像的同时，可以对纳米力学性能 （包括模量、粘附力、能量损失、样品变形量） 进行成像；针尖尖端导电的探针使得可以实现电化学测量， 脉冲式 I-V 超快速脉冲测量单元 (PMU) ，瞬态波形捕获模式，任意波形发生器，支持多电平脉冲波形，高压脉冲发生器单元 (PGU)，任意波形发生器，支持多电平脉冲波形，I-V 源测量单元；进行纳米原位扫描探针、电子显微镜进行联用，保证表征同区域各项测试结果均为同一数据采集点，实现纳米材料形貌、结构、成分、光学、电学、力学、电化学等光电性质的综合原位测试，保证数据的真实性和可靠性。为了更好地维护和开发功能，该设备需要免费质保1年，有丰富经验的工程师提供售后服务，在国内有专门的售后团队及备件库，售后服务响应时间不超8小时，终身提供免费电话、邮件技术咨询服务，可提供远程服务。

兰伟 *

A*物理光学仪器，A*光学测试仪器，A*电子光学及离子光学仪器，A*物理特性分析仪器及校准仪器

纳米尺度原位光电性能测试系统。该系统主要用于各类电子材料、半导体材料、磁性材料在光、电场作用下的纳米原位的表面结构、光学、电学性能研究，这对于分析材料的物理机理提供了很好的技术手段。测试系统具有以下功能：在对样品表面形貌进行高分辨率形貌成像和表面电势成像的同时，可以对纳米力学性能 （包括模量、粘附力、能量损失、样品变形量） 进行成像；针尖尖端导电的探针使得可以实现电化学测量， 脉冲式 I-V 超快速脉冲测量单元 (PMU) ，瞬态波形捕获模式，任意波形发生器，支持多电平脉冲波形，高压脉冲发生器单元 (PGU)，任意波形发生器，支持多电平脉冲波形，I-V 源测量单元；进行纳米原位扫描探针、电子显微镜进行联用，保证表征同区域各项测试结果均为同一数据采集点，实现纳米材料形貌、结构、成分、光学、电学、力学、电化学等光电性质的综合原位测试，保证数据的真实性和可靠性。为了更好地维护和开发功能，该设备需要免费质保1年，有丰富经验的工程师提供售后服务，在国内有专门的售后团队及备件库，售后服务响应时间不超8小时，终身提供免费电话、邮件技术咨询服务，可提供远程服务。

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