A*半导体器件参数测量仪

设备名称：光电测试系统，数量：1套。该设备是一套采用光束空间均匀化技术，利用ASTM标准的【Irradiance Mode】测试方法，与先进探针台形成完整的光电探测器特性分析测试的解决方案。主要功能有：外部量子效率光谱测量EQE、光谱响应测量SR、I-V 曲线测量、NEP 光谱测量、D*光谱测量、Noise-current-frequency 响应图 以及Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析等；可测量各种光电器件、场效应晶体管、阵列传感器、半导体辐射探测器、以及太阳能电池等的光谱响应/量子效率、暗态电流曲线测试（多达4端电极器件）、不同入射光源（可见光、紫外光、近红外、伽马射线等）辐照下的电压-电流曲线、光电流时间响应、光强响应动态范围（高达120dB）、噪声频谱分析与对时间的响应等待性的测量与研究；该系统整合了多通道分析仪、放大器等组件，可对辐射探测器件获得的信号进行幅度、时域上的分析，从而获得探测器对放射源的能谱分析、判定器件的能谱分辨率、绝对光量子产额与余辉性能。本台仪器设备为本项目组开展教学、人才培养和科学研究所必需。技术要求：1、光源波长范围：300-1100nm, 波长准确度：±0.2nm；光斑不均匀度<5%2、放射源：Cs137; Na22; Am241等3、配4""标准探针台，可测试最多4端光电器件，配屏蔽箱4、电流分辨率10E-14 A5、最大偏置电压200V6、多道分析组件死时间<2us7、高压电源输出电压0~3kV,噪声波纹<10mV8、主放大器需适用于半导体探测器、闪烁体探测器，增益1~1000可调；9、前放需适用于半导体探测器、闪烁体探测器，上升时间<10ns;10、光电倍增管波长范围230~920nm，上升时间<1ns安装要求：用电规格需为常规的实验室用电交付时间要求：4个月内交付交付地点要求：中山大学广州校区东校园

A*半导体器件参数测量仪

设备名称：光电测试系统，数量：1套。该设备是一套采用光束空间均匀化技术，利用ASTM标准的【Irradiance Mode】测试方法，与先进探针台形成完整的光电探测器特性分析测试的解决方案。主要功能有：外部量子效率光谱测量EQE、光谱响应测量SR、I-V 曲线测量、NEP 光谱测量、D*光谱测量、Noise-current-frequency 响应图 以及Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析等；可测量各种光电器件、场效应晶体管、阵列传感器、半导体辐射探测器、以及太阳能电池等的光谱响应/量子效率、暗态电流曲线测试（多达4端电极器件）、不同入射光源（可见光、紫外光、近红外、伽马射线等）辐照下的电压-电流曲线、光电流时间响应、光强响应动态范围（高达120dB）、噪声频谱分析与对时间的响应等待性的测量与研究；该系统整合了多通道分析仪、放大器等组件，可对辐射探测器件获得的信号进行幅度、时域上的分析，从而获得探测器对放射源的能谱分析、判定器件的能谱分辨率、绝对光量子产额与余辉性能。本台仪器设备为本项目组开展教学、人才培养和科学研究所必需。技术要求：1、光源波长范围：300-1100nm, 波长准确度：±0.2nm；光斑不均匀度<5%2、放射源：Cs137; Na22; Am241等3、配4""标准探针台，可测试最多4端光电器件，配屏蔽箱4、电流分辨率10E-14 A5、最大偏置电压200V6、多道分析组件死时间<2us7、高压电源输出电压0~3kV,噪声波纹<10mV8、主放大器需适用于半导体探测器、闪烁体探测器，增益1~1000可调；9、前放需适用于半导体探测器、闪烁体探测器，上升时间<10ns;10、光电倍增管波长范围230~920nm，上升时间<1ns安装要求：用电规格需为常规的实验室用电交付时间要求：4个月内交付交付地点要求：中山大学广州校区东校园