单晶外延薄膜高分辨X射线衍射仪招标预告
单晶外延薄膜高分辨X射线衍射仪招标预告
单晶外延薄膜高分辨X射线衍射仪 | |
项目所在采购意向: | 东北师范大学2022年11月政府采购意向 |
采购单位: | 东北师范大学 |
采购项目名称: | 单晶外延薄膜高分辨X射线衍射仪 |
预算金额: | 290.*万元(人民币) |
采购品目: | A* |
采购需求概况 : | 本设备为高分辨率之薄膜X-射线衍射仪,主要用途为测量Si, Ge, SiC, GaN, InGaN, AlGaN, GaAs, InP, AlN, GaSb …等化合半导体材料之单晶和外延层材料的结晶完整性,外延层及相应半导体器件结构(如超晶格、多量子阱、LED结构等)的组分、厚度、弛豫度等参数的测定,外延结构的晶格失配及应变状态分析。 进行半导体外延分析包括五轴欧拉样品台,高强度高分辨四晶单色器及混合单色器,可以进行Rocking Curve和超快速倒易空间Mapping分析,配置相应的外延分析软件。 |
预计采购时间: | 2022-11 |
备注: |
单晶外延薄膜高分辨X射线衍射仪 | |
项目所在采购意向: | 东北师范大学2022年11月政府采购意向 |
采购单位: | 东北师范大学 |
采购项目名称: | 单晶外延薄膜高分辨X射线衍射仪 |
预算金额: | 290.*万元(人民币) |
采购品目: | A* |
采购需求概况 : | 本设备为高分辨率之薄膜X-射线衍射仪,主要用途为测量Si, Ge, SiC, GaN, InGaN, AlGaN, GaAs, InP, AlN, GaSb …等化合半导体材料之单晶和外延层材料的结晶完整性,外延层及相应半导体器件结构(如超晶格、多量子阱、LED结构等)的组分、厚度、弛豫度等参数的测定,外延结构的晶格失配及应变状态分析。 进行半导体外延分析包括五轴欧拉样品台,高强度高分辨四晶单色器及混合单色器,可以进行Rocking Curve和超快速倒易空间Mapping分析,配置相应的外延分析软件。 |
预计采购时间: | 2022-11 |
备注: |
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