A*其他专用仪器仪表

原位近常压XPS测试系统，数量：1套。该设备用于科研和教学；交付时间要求：2023年6月；交付地点要求：中山大学东校园化学材料综合楼；售后服务要求：现场培训加服务1年以上；技术要求如下：1近常压XPS真空系统，包含分析腔和变温样品环境腔体1.1 分析腔采用不锈钢材料；1.2 分析腔配备分子泵以及前级泵，真空≤5×10-7 mbar1.3 变温样品环境腔体采用不锈钢材料；1.4 变温样品环境腔体配备分子泵及前级泵，真空≤5×10-7 mbar；2电子能量分析器2.1 半球型，平均半径150 mm2.2四级差分抽气系统，一级和二级差分抽气之间配有阀门2.3工作压力最大可达50 mbar2.4分析器接收角：≥44o2.5 工作距离 300-500μm2.6 八个入口狭缝，三个出口狭缝2.8 Ag 3d峰计数率： ≥70 kcps在UHV条件；≥7 kcps 在10 mbar N2条件；≥0.5 kcps在25 mbar N2条件2.9 配有一维延迟线探测器（1D-DLD），线性响应可达9 Mcps3 单色化阳极靶微聚焦X射线光源3.1 类型：单色化Al阳极靶 3.2工作范围：10-10 – 25 mbar3.3 Al靶光斑尺寸：200 μm – 1mm3.4 光通量≥1.0x1010 photons /s3.5 配有差抽系统，配套水冷机组，最大水压可达9 bar4 进气气路4.1配有2路进气管路系统，配备质量流量计，用于气体通入5 配备3台相机，用于样品观察、传输导航附件参数：（无此项内容则写“无”）6 变温样品环境6.1配备高精度三轴样品架，可放入样品尺寸最大直径≥120mm，最大高度≥40mm6.2 配备至少10个电气接触设计；6.3 配置加热样品托，加热温度＞600℃ （10 mbar N2条件下）6.4 配备半导体冷却样品托，冷却温度＜-10℃ （10 mbar N2条件下）7 原位动态电化学反应池*7.1 配备三电极和两个电解液管道，以进行固液界面电化学反应的原位测试；*7.2 配备2台蠕动泵，可保证电解液在测试过程中动态流动；7.3 气压范围：2-1000 mbar

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原位近常压XPS测试系统，数量：1套。该设备用于科研和教学；交付时间要求：2023年6月；交付地点要求：中山大学东校园化学材料综合楼；售后服务要求：现场培训加服务1年以上；技术要求如下：1近常压XPS真空系统，包含分析腔和变温样品环境腔体1.1 分析腔采用不锈钢材料；1.2 分析腔配备分子泵以及前级泵，真空≤5×10-7 mbar1.3 变温样品环境腔体采用不锈钢材料；1.4 变温样品环境腔体配备分子泵及前级泵，真空≤5×10-7 mbar；2电子能量分析器2.1 半球型，平均半径150 mm2.2四级差分抽气系统，一级和二级差分抽气之间配有阀门2.3工作压力最大可达50 mbar2.4分析器接收角：≥44o2.5 工作距离 300-500μm2.6 八个入口狭缝，三个出口狭缝2.8 Ag 3d峰计数率： ≥70 kcps在UHV条件；≥7 kcps 在10 mbar N2条件；≥0.5 kcps在25 mbar N2条件2.9 配有一维延迟线探测器（1D-DLD），线性响应可达9 Mcps3 单色化阳极靶微聚焦X射线光源3.1 类型：单色化Al阳极靶 3.2工作范围：10-10 – 25 mbar3.3 Al靶光斑尺寸：200 μm – 1mm3.4 光通量≥1.0x1010 photons /s3.5 配有差抽系统，配套水冷机组，最大水压可达9 bar4 进气气路4.1配有2路进气管路系统，配备质量流量计，用于气体通入5 配备3台相机，用于样品观察、传输导航附件参数：（无此项内容则写“无”）6 变温样品环境6.1配备高精度三轴样品架，可放入样品尺寸最大直径≥120mm，最大高度≥40mm6.2 配备至少10个电气接触设计；6.3 配置加热样品托，加热温度＞600℃ （10 mbar N2条件下）6.4 配备半导体冷却样品托，冷却温度＜-10℃ （10 mbar N2条件下）7 原位动态电化学反应池*7.1 配备三电极和两个电解液管道，以进行固液界面电化学反应的原位测试；*7.2 配备2台蠕动泵，可保证电解液在测试过程中动态流动；7.3 气压范围：2-1000 mbar