A*半导体器件参数测量仪

温差发电热电材料性能测试系统主要由塞贝克系数/电阻率物性测量设备ZEM和热电转换效率测试设备mini-PEM构成，用于对温差发电热电材料设计的热力学方法进行实验验证，测量所设计热电材料的塞贝克系数、电阻率等关键物性参数，以及热电转换效率。采购数量为1套。塞贝克系数/电阻率物性测量设备ZEM主要参数：测量数值：塞贝克系数、电阻率；温度范围：50~800℃；测试样品大小：方形2-4mm×6-22mm或圆形φ2-4mm×6-22mm；加热方式：红外加热；气氛：高纯氮气（99.999%）；样品温差：MAX.50 ℃测量方式：电脑全自动测量热电转换效率测试设备mini-PEM主要参数：测量数值：热电转换效率，发电量，热流量测试方法：一维热流输入法 模块大小：方形2-10mm×1-20mmH加热表面温度：50 ~ 500℃ 设备主体尺寸：550mmW×650mmD×500mmH设备使用寿命不少于10年，提供本项目验收后所有设备的软硬件2年免费（原厂）质保，并提供售后服务承诺函，加盖原厂公章。提供不少于15天不少于2人的工程师安装、配置和使用等实操培训课程，场地、交通等与培训相关的费用均由供应商承担。安全性符合国家相关标准。

A*半导体器件参数测量仪

温差发电热电材料性能测试系统主要由塞贝克系数/电阻率物性测量设备ZEM和热电转换效率测试设备mini-PEM构成，用于对温差发电热电材料设计的热力学方法进行实验验证，测量所设计热电材料的塞贝克系数、电阻率等关键物性参数，以及热电转换效率。采购数量为1套。塞贝克系数/电阻率物性测量设备ZEM主要参数：测量数值：塞贝克系数、电阻率；温度范围：50~800℃；测试样品大小：方形2-4mm×6-22mm或圆形φ2-4mm×6-22mm；加热方式：红外加热；气氛：高纯氮气（99.999%）；样品温差：MAX.50 ℃测量方式：电脑全自动测量热电转换效率测试设备mini-PEM主要参数：测量数值：热电转换效率，发电量，热流量测试方法：一维热流输入法 模块大小：方形2-10mm×1-20mmH加热表面温度：50 ~ 500℃ 设备主体尺寸：550mmW×650mmD×500mmH设备使用寿命不少于10年，提供本项目验收后所有设备的软硬件2年免费（原厂）质保，并提供售后服务承诺函，加盖原厂公章。提供不少于15天不少于2人的工程师安装、配置和使用等实操培训课程，场地、交通等与培训相关的费用均由供应商承担。安全性符合国家相关标准。