A*光学式分析仪器

主要功能：可在不同温度、压力、气氛等原位/准原位条件下，对热/电催化过程中催化剂的表面结构变化、关键吸附中间体、局域反应物/产物浓度变化进行分析；可研究材料制备过程中的表/界面变化。该技术适合于固体粉末样品的直接测定，样品处理简单，无需压片，并且不改变样品原有形态。数量：1主要参数：主机：光谱范围8000-350 cm-1；波数精度优于0.005 cm-1；透光率准度优于0.1%T；分辨率0.16 cm-1；时间分辨率微秒~纳秒；Globar红外光源；KBr分束器；Rock-SolidTM干涉仪；样品仓单IR通道，体积为255 × 270 × 225 mm；一体化触摸平板电脑；高灵敏度MCT检测器，12,000-600 cm-1，液氮制冷。气-固热催化漫反射组件：漫反射红外晶体种类Si、SiO、CaF2、ZnSe、ZnS等；可变入射角光学台，30-80度连续可调；测试池316L不锈钢材质；真空度1×10-6 torr；温度RT至910 ℃（真空下）；压力最高3.44 MPa，配备数显温控与水冷机。气-液-固热催化衰减全反射组件：内反射金刚石晶体；最高温度200 ℃；最高压力20.68 MPa；数显温控器。电催化衰减全反射组件：可通入特定反应气；内反射模式工作电极与红外晶体为单晶硅；外反射模式工作电极适配性广，红外晶体种类Si、CaF2、ZnSe等；常温常压。

A*光学式分析仪器

主要功能：可在不同温度、压力、气氛等原位/准原位条件下，对热/电催化过程中催化剂的表面结构变化、关键吸附中间体、局域反应物/产物浓度变化进行分析；可研究材料制备过程中的表/界面变化。该技术适合于固体粉末样品的直接测定，样品处理简单，无需压片，并且不改变样品原有形态。数量：1主要参数：主机：光谱范围8000-350 cm-1；波数精度优于0.005 cm-1；透光率准度优于0.1%T；分辨率0.16 cm-1；时间分辨率微秒~纳秒；Globar红外光源；KBr分束器；Rock-SolidTM干涉仪；样品仓单IR通道，体积为255 × 270 × 225 mm；一体化触摸平板电脑；高灵敏度MCT检测器，12,000-600 cm-1，液氮制冷。气-固热催化漫反射组件：漫反射红外晶体种类Si、SiO、CaF2、ZnSe、ZnS等；可变入射角光学台，30-80度连续可调；测试池316L不锈钢材质；真空度1×10-6 torr；温度RT至910 ℃（真空下）；压力最高3.44 MPa，配备数显温控与水冷机。气-液-固热催化衰减全反射组件：内反射金刚石晶体；最高温度200 ℃；最高压力20.68 MPa；数显温控器。电催化衰减全反射组件：可通入特定反应气；内反射模式工作电极与红外晶体为单晶硅；外反射模式工作电极适配性广，红外晶体种类Si、CaF2、ZnSe等；常温常压。