2022年11至12月政府意向-双球差校正透射电子显微镜1套、200KV透射电子显微镜1套、原位气/液招标预告
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2022年11至12月政府意向-双球差校正透射电子显微镜1套、200KV透射电子显微镜1套、原位气/液招标预告
| 双球差校正透射电子显微镜1 套、 200KV透射电子显微镜1套、 原位气/液-固材料表界面原子级超高分辨率表征系统1套、 电子探针X射线显微分析仪1台 | |
| 项目所在采购意向： | 天津大学2022年11至12月政府采购意向 |
| 采购单位： | 天津大学 |
| 采购项目名称： | 双球差校正透射电子显微镜1 套、 200KV透射电子显微镜1套、 原位气/液-固材料表界面原子级超高分辨率表征系统1套、 电子探针X射线显微分析仪1台 |
| 预算金额： | 6630.*万元(人民币) |
| 采购品目： | A* 电子光学及离子光学仪器 A* 显微镜 |
| 采购需求概况 ： | 双球差校正透射电子显微镜主要需求： 1. 双球差校正器； 2. TEM晶格分辨率：好于60pm(300kV)； 3. STEM分辨率：好于60pm(300kV);好于 110pm(80kV)； 4. 加速电压稳定性：≤ 0.8 ppm / 10min；4.束斑电流：≥0.30nA； 5. 能量分辨率：<0.35eV； 6.能做线扫和面扫。包括样品杆、三维重构 自动化数据收集系统和电子断层扫描技术。 200KV透射电子显微镜主要需求： 1.电子枪 场发射电子枪； 2.分辨率： 点分辨率 ≤0.25nm 线分辨率 ≤0.14nm 信息分辨率 ≤0.12n m STEM分辨率： ≤0.16 nm 3.加速电压：20kV-200kV，加速电压连续可调仅需通过软件完成 束流和束斑 束流：≥2.5nA(束斑尺寸为φ0.7nm时) 0.5-20nm 4.放大系统 放大倍数重复性：<1.5% 5.物镜；具有宽阔的极靴空间，具备扩展EDX的三维分析能力 6.样品台五轴CompuStage样品台，可存储和复位5维坐标 7.扫描透射(STEM) 探头：四个不同的探测器（BF, DF1, DF2, HAADF），可同时采集4x幅来自不同角度的电子信号，明场（BF），环形明场（ABF），环形暗场（ADF）和大角度环形暗场（HAADF）的图像。 能谱仪 电制冷EDS 系统，有效探测器面积不少于200 mm2 8.三维重构硬件和软件: 三维重构硬件包含专用大倾角样品杆一套，样品杆 原位气/液-固材料表界面原子超级高分辨率表征系统主要需求： 1.双球差校正器； 2.TEM晶格分辨率：好于60pm(300kV)； 3.STEM分辨率：好于60pm(300kV);好于 110pm(80kV)； 4.加速电压稳定性：≤ 0.8 ppm / 10min；4.束斑电流：≥0.30nA； 5.能量分辨率：<0.35eV； 6.能做线扫和面扫。包括样品杆、三维重构 自动化数据收集系统和电子断层扫描技术。 7.包括原位系统 电子探针X射线显微分析仪主要需求： 1.二次电子图像分辨率≤3nm（30kV），放大倍数： 40～300,000（连续可调）; 2.束流稳定度：≤±0.3%/h; 3.X射线检出角：40°; 4.3.0μA（加速电压30kV）的最大束流,可超高灵敏度进行超微量元素的面分析,并且全束流范围无需更换物镜光阑; 5.可以检出的元素范围5B～92U。 |
| 预计采购时间： | 2022-11 |
| 备注： | |
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排，具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
| 双球差校正透射电子显微镜1 套、 200KV透射电子显微镜1套、 原位气/液-固材料表界面原子级超高分辨率表征系统1套、 电子探针X射线显微分析仪1台 | |
| 项目所在采购意向： | 天津大学2022年11至12月政府采购意向 |
| 采购单位： | 天津大学 |
| 采购项目名称： | 双球差校正透射电子显微镜1 套、 200KV透射电子显微镜1套、 原位气/液-固材料表界面原子级超高分辨率表征系统1套、 电子探针X射线显微分析仪1台 |
| 预算金额： | 6630.*万元(人民币) |
| 采购品目： | A* 电子光学及离子光学仪器 A* 显微镜 |
| 采购需求概况 ： | 双球差校正透射电子显微镜主要需求： 1. 双球差校正器； 2. TEM晶格分辨率：好于60pm(300kV)； 3. STEM分辨率：好于60pm(300kV);好于 110pm(80kV)； 4. 加速电压稳定性：≤ 0.8 ppm / 10min；4.束斑电流：≥0.30nA； 5. 能量分辨率：<0.35eV； 6.能做线扫和面扫。包括样品杆、三维重构 自动化数据收集系统和电子断层扫描技术。 200KV透射电子显微镜主要需求： 1.电子枪 场发射电子枪； 2.分辨率： 点分辨率 ≤0.25nm 线分辨率 ≤0.14nm 信息分辨率 ≤0.12n m STEM分辨率： ≤0.16 nm 3.加速电压：20kV-200kV，加速电压连续可调仅需通过软件完成 束流和束斑 束流：≥2.5nA(束斑尺寸为φ0.7nm时) 0.5-20nm 4.放大系统 放大倍数重复性：<1.5% 5.物镜；具有宽阔的极靴空间，具备扩展EDX的三维分析能力 6.样品台五轴CompuStage样品台，可存储和复位5维坐标 7.扫描透射(STEM) 探头：四个不同的探测器（BF, DF1, DF2, HAADF），可同时采集4x幅来自不同角度的电子信号，明场（BF），环形明场（ABF），环形暗场（ADF）和大角度环形暗场（HAADF）的图像。 能谱仪 电制冷EDS 系统，有效探测器面积不少于200 mm2 8.三维重构硬件和软件: 三维重构硬件包含专用大倾角样品杆一套，样品杆 原位气/液-固材料表界面原子超级高分辨率表征系统主要需求： 1.双球差校正器； 2.TEM晶格分辨率：好于60pm(300kV)； 3.STEM分辨率：好于60pm(300kV);好于 110pm(80kV)； 4.加速电压稳定性：≤ 0.8 ppm / 10min；4.束斑电流：≥0.30nA； 5.能量分辨率：<0.35eV； 6.能做线扫和面扫。包括样品杆、三维重构 自动化数据收集系统和电子断层扫描技术。 7.包括原位系统 电子探针X射线显微分析仪主要需求： 1.二次电子图像分辨率≤3nm（30kV），放大倍数： 40～300,000（连续可调）; 2.束流稳定度：≤±0.3%/h; 3.X射线检出角：40°; 4.3.0μA（加速电压30kV）的最大束流,可超高灵敏度进行超微量元素的面分析,并且全束流范围无需更换物镜光阑; 5.可以检出的元素范围5B～92U。 |
| 预计采购时间： | 2022-11 |
| 备注： | |
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排，具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
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