A*质谱仪

计划采购一台电感耦合等离子体质谱仪，用于与场流仪等设备的连用，检测低浓度的重金属离子浓度及单颗粒中金属浓度分析，主要技术参数包括：1.整机气路控制：进样系统配备不少于4个高精度气体质量流量计，碰撞反应池配备不少于1个高精度气体质量流量计，需提供气路结构硬件图示证明； 2.炬管：一体式石英炬管，无O型圈设计，炬管X/Y/Z定位可由步进电机控制自动完成；3.高盐进样系统：仪器配置全自动在线气体稀释装置，具有预设稀释倍数和稀释气体流量手动调节两种工作模式，需分别提供两种工作模式的软件参数界面截图，体现预设倍数（4至100倍可选）和稀释气体流量参数（0-2ml/min可调，精度0.01ml/min）；4.二次放电消除技术：须采取措施，预防意外放电造成的工作线圈击穿（提供实物图片证明）5.离子透镜：须具备提取透镜，能同时分别施加正负电压；6.四极杆质量数范围：2~258 amu；7.检测器：检测器每秒离子计数范围须达到0.1cps~1×1010cps。8.灵敏度【cps/ppm】：低质量数：Li(7) ≥55 M；中质量数：Y(89) ≥320 M；高质量数：Tl(205) ≥200 M (U≥350M)9.检测限【3δ，ppt】：Be(9) ≤ 0.4 ppt；In(115) ≤ 0.1 ppt；Bi(209) ≤ 0.1 ppt10.背景：≤1.0 cps （在质量数9 amu处实测背景）11.氧化物产率(CeO+/Ce+) ：≤1.6 %12.双电荷产率(Ce2+/Ce+)：≤3.0 %13.短期稳定性(RSD)： ≤2% (20 min) (在1ppb 标准溶液中测定)14.长期稳定性(RSD)：≤3% (2 hrs) (在1ppb 标准溶液中测定)15. 在单颗粒模式与 FFF 模式中具备采集并分析纳米颗粒的功能，具备与场流仪联用接口与设备控制功能，能实现场流仪流出液的实时检测和信息记录，同一样品在联用及未联用情况下所得结果无明显差异。

A*质谱仪

计划采购一台电感耦合等离子体质谱仪，用于与场流仪等设备的连用，检测低浓度的重金属离子浓度及单颗粒中金属浓度分析，主要技术参数包括：1.整机气路控制：进样系统配备不少于4个高精度气体质量流量计，碰撞反应池配备不少于1个高精度气体质量流量计，需提供气路结构硬件图示证明； 2.炬管：一体式石英炬管，无O型圈设计，炬管X/Y/Z定位可由步进电机控制自动完成；3.高盐进样系统：仪器配置全自动在线气体稀释装置，具有预设稀释倍数和稀释气体流量手动调节两种工作模式，需分别提供两种工作模式的软件参数界面截图，体现预设倍数（4至100倍可选）和稀释气体流量参数（0-2ml/min可调，精度0.01ml/min）；4.二次放电消除技术：须采取措施，预防意外放电造成的工作线圈击穿（提供实物图片证明）5.离子透镜：须具备提取透镜，能同时分别施加正负电压；6.四极杆质量数范围：2~258 amu；7.检测器：检测器每秒离子计数范围须达到0.1cps~1×1010cps。8.灵敏度【cps/ppm】：低质量数：Li(7) ≥55 M；中质量数：Y(89) ≥320 M；高质量数：Tl(205) ≥200 M (U≥350M)9.检测限【3δ，ppt】：Be(9) ≤ 0.4 ppt；In(115) ≤ 0.1 ppt；Bi(209) ≤ 0.1 ppt10.背景：≤1.0 cps （在质量数9 amu处实测背景）11.氧化物产率(CeO+/Ce+) ：≤1.6 %12.双电荷产率(Ce2+/Ce+)：≤3.0 %13.短期稳定性(RSD)： ≤2% (20 min) (在1ppb 标准溶液中测定)14.长期稳定性(RSD)：≤3% (2 hrs) (在1ppb 标准溶液中测定)15. 在单颗粒模式与 FFF 模式中具备采集并分析纳米颗粒的功能，具备与场流仪联用接口与设备控制功能，能实现场流仪流出液的实时检测和信息记录，同一样品在联用及未联用情况下所得结果无明显差异。