zycgr210708012022年12月政府意向-分光光度计-A033499其他专用仪器仪表-招标预告

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分光光度计
项目所在采购意向:zycgr*年12月政府采购意向
采购单位:zycgr*
采购项目名称:分光光度计
预算金额:126.*万元(人民币)
采购品目:
A*其他专用仪器仪表
采购需求概况 :
本项目采购的分光光度计,主要是用于满足微纳加工与量子器件研制平台首期承担科研任务(高反低噪晶体膜及高反介质膜)的需求,以及其他器件研制的需求。在超高反射率薄膜的制备中,需要通过测量样品的反射谱和透射谱来验证镀膜成品是否符合薄膜光学设计,进行制备参数的优化迭代。对于表征样品尺寸的需求为8寸,可满足平台中测量样品的实际尺寸需求;波长覆盖范围,制备极低噪声超高反射率半导体晶体膜及超高反射率薄膜中,波长有可见光、近红外等明确需求;自动mapping功能,主要是在表征所制备的薄膜反射率均匀性,需求来自于晶体膜的可用区域筛选,以及超高反射率介质膜镀膜设备验收是必要需求,为行业内验证薄膜均匀性的标准;绝对反射谱测量模块,主要是高反膜的反射率无法精确的通过相对反射率(需要标片)测量来取得,会有测量失真的情形。目前并无能满足需求的同类设备,且委托第三方平台测量中存在因维护不佳造成测量重复性低以及样品表面污染的问题,尤其后者的出现会严重破坏样品后续的应用。因此,采购一套专用的分光光度计对于平台所承担的科研任务是必要且急迫的。
预计采购时间:2022-12
分光光度计
项目所在采购意向:zycgr*年12月政府采购意向
采购单位:zycgr*
采购项目名称:分光光度计
预算金额:126.*万元(人民币)
采购品目:
A*其他专用仪器仪表
采购需求概况 :
本项目采购的分光光度计,主要是用于满足微纳加工与量子器件研制平台首期承担科研任务(高反低噪晶体膜及高反介质膜)的需求,以及其他器件研制的需求。在超高反射率薄膜的制备中,需要通过测量样品的反射谱和透射谱来验证镀膜成品是否符合薄膜光学设计,进行制备参数的优化迭代。对于表征样品尺寸的需求为8寸,可满足平台中测量样品的实际尺寸需求;波长覆盖范围,制备极低噪声超高反射率半导体晶体膜及超高反射率薄膜中,波长有可见光、近红外等明确需求;自动mapping功能,主要是在表征所制备的薄膜反射率均匀性,需求来自于晶体膜的可用区域筛选,以及超高反射率介质膜镀膜设备验收是必要需求,为行业内验证薄膜均匀性的标准;绝对反射谱测量模块,主要是高反膜的反射率无法精确的通过相对反射率(需要标片)测量来取得,会有测量失真的情形。目前并无能满足需求的同类设备,且委托第三方平台测量中存在因维护不佳造成测量重复性低以及样品表面污染的问题,尤其后者的出现会严重破坏样品后续的应用。因此,采购一套专用的分光光度计对于平台所承担的科研任务是必要且急迫的。
预计采购时间:2022-12
    
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