中国科学院微电子研究所2023年4至12月政府采购意向-高通量同异步并行纳米器件参数测试系统-A02110204-半导体器件参数测量仪-预算金额495.000000万元(人民币)
中国科学院微电子研究所2023年4至12月政府采购意向-高通量同异步并行纳米器件参数测试系统-A02110204-半导体器件参数测量仪-预算金额495.000000万元(人民币)
高通量同异步并行纳米器件参数测试系统 | |
项目所在采购意向: | (略) 微电子研究所2023年4至12月政府采购意向 |
采购单位: | (略) 微电子研究所 |
采购项目名称: | 高通量同异步并行纳米器件参数测试系统 |
预算金额: | 495.*万元(人民币) |
采购品目: | A*-半导体器件参数测量仪 |
采购需求概况: | 采购标的名称:高通量同异步并行纳米器件参数测试系统主要功能:用于复杂结构器件所需超大规模检测需求,实现高通量、高精确度、高检测速度阵列测试。采购标的数量:1台质量要求:1、高分辨率源测量;2、脉冲电压范围±40V,脉冲电压精度±2%,支持任意波形产生功能,可产生3波段脉冲,最短脉宽50ns,最小上升沿20ns;3、高功率源测量;4、AC阻抗测量(C-V, C-f, C-t),频率范围:1KHz-2MHz,频率分辨率:1kHz,电容范围:1fF-100nF,偏置电压范围:±40V,偏置电压精准度:0.1%;5、超高位数字万用表:电压范围±(0.1uV-100V),电压测量分辨率0.1 uV。服务、安全、时限等要求:提供设备验收合格后1年质保。提供符合现场实际情况的设备安装方案。设备订单生成后1年内交货安装完成。 |
预计采购时间: | 2023-10 |
备注: |
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排,具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
高通量同异步并行纳米器件参数测试系统 | |
项目所在采购意向: | (略) 微电子研究所2023年4至12月政府采购意向 |
采购单位: | (略) 微电子研究所 |
采购项目名称: | 高通量同异步并行纳米器件参数测试系统 |
预算金额: | 495.*万元(人民币) |
采购品目: | A*-半导体器件参数测量仪 |
采购需求概况: | 采购标的名称:高通量同异步并行纳米器件参数测试系统主要功能:用于复杂结构器件所需超大规模检测需求,实现高通量、高精确度、高检测速度阵列测试。采购标的数量:1台质量要求:1、高分辨率源测量;2、脉冲电压范围±40V,脉冲电压精度±2%,支持任意波形产生功能,可产生3波段脉冲,最短脉宽50ns,最小上升沿20ns;3、高功率源测量;4、AC阻抗测量(C-V, C-f, C-t),频率范围:1KHz-2MHz,频率分辨率:1kHz,电容范围:1fF-100nF,偏置电压范围:±40V,偏置电压精准度:0.1%;5、超高位数字万用表:电压范围±(0.1uV-100V),电压测量分辨率0.1 uV。服务、安全、时限等要求:提供设备验收合格后1年质保。提供符合现场实际情况的设备安装方案。设备订单生成后1年内交货安装完成。 |
预计采购时间: | 2023-10 |
备注: |
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排,具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
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