中国科学院半导体研究所2023年7至12月政府采购意向-低温测试设备其他专用仪器仪表-预算金额万元人民币
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中国科学院半导体研究所2023年7至12月政府采购意向-低温测试设备其他专用仪器仪表-预算金额万元人民币
| 低温PL mapping测试设备 | |
| 项目所在采购意向： | (略) 半导体研究所2023年7至12月政府采购意向 |
| 采购单位： | (略) 半导体研究所 |
| 采购项目名称： | 低温PL mapping测试设备 |
| 预算金额： | 230.*万元(人民币) |
| 采购品目： | A*-其他专用仪器仪表 |
| 采购需求概况： | 该设备主要用于测试低温及常温下外延片PL信号的单光谱；测试低温及常温下外延片PL信号的多光谱；测试低温及常温下积分PL信号强度；测试低温及常温下整片全光谱 mapping数据；测试低温及常温下外延层厚度 mapping数据；PL测试系统需要在不影响光谱及空间分辨率的前提下达到对半导体材料的超高速mapping测试，测试时间达到秒量级。测试系统配置的光谱范围需要覆盖紫外到红外各种波段，所用的激光器，检波器，光栅等相应元件都安装在仪器内，试用某一波段只需软件调用即可，无需光路调整，人工调换。需要在极短时间内对外延片进行成分均匀度和材料质量的分析，以便在生长中及时调整参数。测试系统需要具备高分辨光谱的测试能力。测试设备需要配置温度以及激光功率监测器，且对样品形状大小没有限制。设备需要有光强测试系统以及全光谱测量系统，且增加反射率测量配件后可进行薄膜厚度及VCSEL特性测试。 |
| 预计采购时间： | 2023-07 |
| 备注： | |
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排，具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
| 低温PL mapping测试设备 | |
| 项目所在采购意向： | (略) 半导体研究所2023年7至12月政府采购意向 |
| 采购单位： | (略) 半导体研究所 |
| 采购项目名称： | 低温PL mapping测试设备 |
| 预算金额： | 230.*万元(人民币) |
| 采购品目： | A*-其他专用仪器仪表 |
| 采购需求概况： | 该设备主要用于测试低温及常温下外延片PL信号的单光谱；测试低温及常温下外延片PL信号的多光谱；测试低温及常温下积分PL信号强度；测试低温及常温下整片全光谱 mapping数据；测试低温及常温下外延层厚度 mapping数据；PL测试系统需要在不影响光谱及空间分辨率的前提下达到对半导体材料的超高速mapping测试，测试时间达到秒量级。测试系统配置的光谱范围需要覆盖紫外到红外各种波段，所用的激光器，检波器，光栅等相应元件都安装在仪器内，试用某一波段只需软件调用即可，无需光路调整，人工调换。需要在极短时间内对外延片进行成分均匀度和材料质量的分析，以便在生长中及时调整参数。测试系统需要具备高分辨光谱的测试能力。测试设备需要配置温度以及激光功率监测器，且对样品形状大小没有限制。设备需要有光强测试系统以及全光谱测量系统，且增加反射率测量配件后可进行薄膜厚度及VCSEL特性测试。 |
| 预计采购时间： | 2023-07 |
| 备注： | |
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排，具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
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