深圳大学射频芯片器件综合测试系统意向公开

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深圳大学射频芯片器件综合测试系统意向公开

深圳大学射频芯片器件综合测试系统意向公开
2023/8/16 22:08:00

采购单位: 深圳大学
项目名称: 射频芯片器件综合测试系统
预算金额(元): 8,615,000.000
采购品目: 电子工业生产设备
采购需求概况: 该套系统由近远场天线测试系统、射频探针台、半导体器件参数分析仪、阻抗分析仪及直流探针台组成。近远场天线测试系统用于测量天线的电参数、辐射参数,以评价天线的性能。射频探针台用于为相关射频微波级别的芯片应用提供精确的测试。半导体参数分析仪用于芯片、器件的电流-电压(I-V)和电容-电压(C-V)及脉冲IV测试。阻抗分析仪用于芯片、器件和材料复数电阻抗的测试。直流探针台用于与测试仪器/测试系统配合来测试芯片/半导体器件相关电性能参数。通过上述部分的设备相互配合,该系统能够广泛支撑多领域、多频段的芯片和天线的评估测试。
联系人: 王老师
联系电话: 0755-*
预计采购时间: 2023-09
备注:
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排,具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准
深圳大学射频芯片器件综合测试系统意向公开
2023/8/16 22:08:00

采购单位: 深圳大学
项目名称: 射频芯片器件综合测试系统
预算金额(元): 8,615,000.000
采购品目: 电子工业生产设备
采购需求概况: 该套系统由近远场天线测试系统、射频探针台、半导体器件参数分析仪、阻抗分析仪及直流探针台组成。近远场天线测试系统用于测量天线的电参数、辐射参数,以评价天线的性能。射频探针台用于为相关射频微波级别的芯片应用提供精确的测试。半导体参数分析仪用于芯片、器件的电流-电压(I-V)和电容-电压(C-V)及脉冲IV测试。阻抗分析仪用于芯片、器件和材料复数电阻抗的测试。直流探针台用于与测试仪器/测试系统配合来测试芯片/半导体器件相关电性能参数。通过上述部分的设备相互配合,该系统能够广泛支撑多领域、多频段的芯片和天线的评估测试。
联系人: 王老师
联系电话: 0755-*
预计采购时间: 2023-09
备注:
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排,具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准
    
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