A* 半导体器件参数测量仪

南京大学拟采购半导体特性参数分析系统一套，用于测试半导体器件和纳米器件的电学综合性能，实现器件的交直流特性、光电特性、缺陷表征、噪声分析等，最终提供测试报告、图形，为设计人员提供数据参考。主要参数要求如下：1. 半导特性参数分析系统：包含I-V，C-V，高压脉冲，脉冲式 I-V，远程前端放大器，矩阵测试；2. 支持电容C-V测试；3. 支持准静态CV（QSCV）测试能力；4. 支持针对新型材料的晶体管，存储器，光电器件的精确I-V特性表征，测试软件提供丰富的测试模型库，简便创建自定义测试；5. 提供至少5路I-V低漏电测试通道，最高电压输出≥200V，最大电流输出≥100mA，最小电流分辨率≤10aA，最小电压测试分辨率≤0.5μV；6. 支持至少4路窄脉冲输出通道，最大脉冲电压输出幅度≥40V，最小脉冲输出宽度≤50ns，提供至少2路脉冲测试通道，脉冲I-V采样率≥200MSa/s，5ns采样率，支持瞬态波形捕获能力；7. 提供I-V、C-V、脉冲I-V测试自动切换能力，无需换线；8. 支持8*12低漏电矩阵测试切换能力，矩阵切换器漏电≤100fA，支持≥30MHz信号传输，继电器切换时间≤1ms；9. 提供编程控制能力，内置window系统，触摸多点控制操作；10.售后质保一年，一年后如需维修以成本价格更换备品备件。

A* 半导体器件参数测量仪

南京大学拟采购半导体特性参数分析系统一套，用于测试半导体器件和纳米器件的电学综合性能，实现器件的交直流特性、光电特性、缺陷表征、噪声分析等，最终提供测试报告、图形，为设计人员提供数据参考。主要参数要求如下：1. 半导特性参数分析系统：包含I-V，C-V，高压脉冲，脉冲式 I-V，远程前端放大器，矩阵测试；2. 支持电容C-V测试；3. 支持准静态CV（QSCV）测试能力；4. 支持针对新型材料的晶体管，存储器，光电器件的精确I-V特性表征，测试软件提供丰富的测试模型库，简便创建自定义测试；5. 提供至少5路I-V低漏电测试通道，最高电压输出≥200V，最大电流输出≥100mA，最小电流分辨率≤10aA，最小电压测试分辨率≤0.5μV；6. 支持至少4路窄脉冲输出通道，最大脉冲电压输出幅度≥40V，最小脉冲输出宽度≤50ns，提供至少2路脉冲测试通道，脉冲I-V采样率≥200MSa/s，5ns采样率，支持瞬态波形捕获能力；7. 提供I-V、C-V、脉冲I-V测试自动切换能力，无需换线；8. 支持8*12低漏电矩阵测试切换能力，矩阵切换器漏电≤100fA，支持≥30MHz信号传输，继电器切换时间≤1ms；9. 提供编程控制能力，内置window系统，触摸多点控制操作；10.售后质保一年，一年后如需维修以成本价格更换备品备件。