A*射线式分析仪器

动态环境物质结构谱仪主要是反应样品在实际工作状态下的局域结构和电子结构的演化过程，包括吸收元素的氧化态、键共价性、配位数、配位原子类型和原子间距离等信息。动态环境物质结构谱仪不仅可以应用于环境与能源基础学科中的环境特定物质性质分析、功能材料性能研究、纳米材料合成研究、化学合成分析研究以及基础物理研究等多学科交叉融合项目，同时，该种技术还可以应用于国际上各个不同领域的最前沿应用研究，如生物医药领域的生物大分子结构研究、航空航天领域的力学研究、轨道交通领域的功能材料研究等。动态环境物质结构谱仪主要功能包括：1、深入开展环境与能源相关物质的表征研究；2、其测试可以提供配位距离、配位数、临近原子种类、吸收原子氧化态等信息。通过动态环境物质结构谱仪测试，可以更深层次研究机理，为解决环境问题中的关键物质的以上信息提供深入分析平台支持，为研发高活性、高选择性、低成本、长寿命的新型材料提供平台支撑；3、该设备测试可以获得材料与局域原子结构信息与材料性能构效关系；4、该设备可以在测试过程可以实现原位反应条件下的测试，在加电、加热或其他气氛条件下实现测试，揭示反应中间状态材料局域的结构变换，更进一步揭示反应机理，极大提高研究效率。拟采购动态环境物质结构谱仪1台，需满足1、能量范围：5-15keV，可扩展至19keV。2、光通量：2,000,000 photons/*@*Kev。3、最低检测限：最低可测0.5%含量的样品。4、X射线光源最大加速电压不低于40 keV, 最大电流不低于40 mA。5、具有高性能XES测试模式可选，采用XES专用X射线源而非与XAFS兼用X射线源避免削弱XAFS测试性能服务：三年质保期，在广州有售后点及质量售后工程师免费上门维修，免费更新升级软件；安全：配备X射线屏蔽罩，状态指示灯，安全标志，有kV过高、kV过低、mA过高、mA过低、无水、X光管超温、整机过流保护、X光管过功率保护等功能。机身配备观察窗，可观察仪器内部结构，观察窗采用高密度、高透明的铅玻璃做防护。时限：年度最低使用机时不低于：10 小时/天 * 300 天/年 = 3000小时/年年度最高使用机时可达到：12 小时/天 * 330 天/年 = 3960小时/年

A*射线式分析仪器

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