A*显微镜

多模态原位共聚焦拉曼快速成像系统，一台，主要配置：1.1 532nm激发波长1.1.1 532 nm TEM00单频激光器，功率≥30 mW; 1.1.2 软件控制，激光功率连续可调，调节精度为0.1mW；1.1.3 内置激光功率计，软件实时显示样品表面功率，软件控制样品表面功率大小；2. 光谱仪与检测器系统: 2.1 光谱仪焦长：≥600 毫米；同时配备三块光栅，300, 600，1800刻线或更高刻线光栅, 可实现软件控制全自动切换，无需手动更换光栅，单窗口可覆盖（3700 cm-1）；2.2 高灵敏度光谱仪；2.3 光谱分辨率：≤1.2 cm-1；2.4 光谱重复性：≤0. 02 cm-1；检测标准：在日常实验条件下，使用单晶硅，采用532 nm激发及100x物镜，重复50次，观察硅520 cm-1拉曼峰位置的可重复性 ；2.5 共聚焦高灵敏度：共聚焦测试条件下,能清晰地观察到硅的四阶拉曼峰，其中硅的三阶拉曼峰（约1440 cm-1）信噪比≥25:1，要求N2和O2拉曼峰不高于硅的四阶拉曼峰高度;检测标准：使用单晶硅片，激光波长532 nm，激光功率不超过10.0 毫瓦，共聚焦针孔直径≤50 微米，积分时间60秒，累积5次，显微镜镜头为50x或100x；2.6 光谱检测器：采用高端低噪音CCD, 峰值量子效率≥55%, TE制冷至-60度； 3.共聚焦拉曼/荧光成像： 3.1 配有摄像机，观察样品表面；3.2 快速（积分时间≤0.01 s）实时监测拉曼光谱，优化实验参数；3.3 快速成像：全光谱成像，单窗口（100-3800 cm-1）大光谱范围采集，时间可≤10毫秒3.4 横向（XY方向）光学空间分辨率：使用100倍干物镜和共聚焦孔不小于50 μm时，拉曼成像横向光学分辨率：≤350 nm @ 532 nm，越高越好；检测条件: 以直径不超过50nm的一维纳米材料为样品(石墨烯完美边缘也可以，光栅样品不可接受), 以100 nm为步长沿垂直纳米材料方向做拉曼线扫描, 获得纳米材料拉曼强度的空间分布曲线，其强度变化曲线的半峰宽即为拉曼成像横向光学分辨率； 3.5 纵向（Z方向）空间分辨率：使用100倍干物镜和共聚焦孔不小于50 μm时，拉曼成像纵向光学分辨率：≤ 900 *@*32 nm； 检测条件: 检测条件: 以Si为样品, 以50 nm为步长沿Z轴方向做拉曼线扫描, 使用100X物镜，获得Si峰拉曼强度的空间分布曲线为高斯对称曲线，其强度变化曲线的半峰宽即为拉曼成像纵向光学分辨率；。具体要求详见采购文件。 供货期：签订合同之日起，300个日历日货到采购人指定地点并安装验收完毕。（包括供货，安装，调试，验收合格所需时间）。具体事宜由成交供应商按采购人指定地点及时间

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多模态原位共聚焦拉曼快速成像系统，一台，主要配置：1.1 532nm激发波长1.1.1 532 nm TEM00单频激光器，功率≥30 mW; 1.1.2 软件控制，激光功率连续可调，调节精度为0.1mW；1.1.3 内置激光功率计，软件实时显示样品表面功率，软件控制样品表面功率大小；2. 光谱仪与检测器系统: 2.1 光谱仪焦长：≥600 毫米；同时配备三块光栅，300, 600，1800刻线或更高刻线光栅, 可实现软件控制全自动切换，无需手动更换光栅，单窗口可覆盖（3700 cm-1）；2.2 高灵敏度光谱仪；2.3 光谱分辨率：≤1.2 cm-1；2.4 光谱重复性：≤0. 02 cm-1；检测标准：在日常实验条件下，使用单晶硅，采用532 nm激发及100x物镜，重复50次，观察硅520 cm-1拉曼峰位置的可重复性 ；2.5 共聚焦高灵敏度：共聚焦测试条件下,能清晰地观察到硅的四阶拉曼峰，其中硅的三阶拉曼峰（约1440 cm-1）信噪比≥25:1，要求N2和O2拉曼峰不高于硅的四阶拉曼峰高度;检测标准：使用单晶硅片，激光波长532 nm，激光功率不超过10.0 毫瓦，共聚焦针孔直径≤50 微米，积分时间60秒，累积5次，显微镜镜头为50x或100x；2.6 光谱检测器：采用高端低噪音CCD, 峰值量子效率≥55%, TE制冷至-60度； 3.共聚焦拉曼/荧光成像： 3.1 配有摄像机，观察样品表面；3.2 快速（积分时间≤0.01 s）实时监测拉曼光谱，优化实验参数；3.3 快速成像：全光谱成像，单窗口（100-3800 cm-1）大光谱范围采集，时间可≤10毫秒3.4 横向（XY方向）光学空间分辨率：使用100倍干物镜和共聚焦孔不小于50 μm时，拉曼成像横向光学分辨率：≤350 nm @ 532 nm，越高越好；检测条件: 以直径不超过50nm的一维纳米材料为样品(石墨烯完美边缘也可以，光栅样品不可接受), 以100 nm为步长沿垂直纳米材料方向做拉曼线扫描, 获得纳米材料拉曼强度的空间分布曲线，其强度变化曲线的半峰宽即为拉曼成像横向光学分辨率； 3.5 纵向（Z方向）空间分辨率：使用100倍干物镜和共聚焦孔不小于50 μm时，拉曼成像纵向光学分辨率：≤ 900 *@*32 nm； 检测条件: 检测条件: 以Si为样品, 以50 nm为步长沿Z轴方向做拉曼线扫描, 使用100X物镜，获得Si峰拉曼强度的空间分布曲线为高斯对称曲线，其强度变化曲线的半峰宽即为拉曼成像纵向光学分辨率；。具体要求详见采购文件。 供货期：签订合同之日起，300个日历日货到采购人指定地点并安装验收完毕。（包括供货，安装，调试，验收合格所需时间）。具体事宜由成交供应商按采购人指定地点及时间