中国科学院微电子研究所2024年9至12月政府采购意向-8英寸晶圆椭偏仪光学测试仪器-预算金额万元人民币

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中国科学院微电子研究所2024年9至12月政府采购意向-8英寸晶圆椭偏仪光学测试仪器-预算金额万元人民币

8英寸晶圆椭偏仪
项目所在采购意向: (略) 微电子研究所2024年9至12月政府采购意向
采购单位: (略) 微电子研究所
采购项目名称: 8英寸晶圆椭偏仪
预算金额: 160.*万元(人民币)
采购品目:
A*-光学测试仪器
采购需求概况:
采购标的名称:8英寸晶圆椭偏仪。采购标的主要功能:检测薄膜性质。主要目标:波长范围193-1000nm;可采集800个数据点;配置自动样品台和微光斑(300um);最快扫描时间0.3s单点 晶圆尺寸200mm 。采购数量:1台 。采购标的所需质量:不同材料薄膜厚度检测精度高、片间相同材料相同厚度薄膜检测误差3%以内、片内检测速度快。服务、安全、时限要求:提供设备验收合格后1年质保。提供符合现场实际情况的设备安装方案。设备订单生成后1年内交货安装完成。
预计采购时间: 2024-12
备注:

本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排,具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。

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8英寸晶圆椭偏仪
项目所在采购意向: (略) 微电子研究所2024年9至12月政府采购意向
采购单位: (略) 微电子研究所
采购项目名称: 8英寸晶圆椭偏仪
预算金额: 160.*万元(人民币)
采购品目:
A*-光学测试仪器
采购需求概况:
采购标的名称:8英寸晶圆椭偏仪。采购标的主要功能:检测薄膜性质。主要目标:波长范围193-1000nm;可采集800个数据点;配置自动样品台和微光斑(300um);最快扫描时间0.3s单点 晶圆尺寸200mm 。采购数量:1台 。采购标的所需质量:不同材料薄膜厚度检测精度高、片间相同材料相同厚度薄膜检测误差3%以内、片内检测速度快。服务、安全、时限要求:提供设备验收合格后1年质保。提供符合现场实际情况的设备安装方案。设备订单生成后1年内交货安装完成。
预计采购时间: 2024-12
备注:

本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排,具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。

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