A*其他光学仪器

设备名：闪烁体辐射探测和光谱成像系统，数量：1套；该设备是表征材料和器件物理性能测试的仪器，旨在为晶圆和器件提供稳定准确的真空和辐射探测及结构信息表征，使用后满足有机光电、微纳光电等研究方向的针对器件物理特性测量工作的需求；技术指标：OmniFluo960SP，75W氙灯，光谱范围200-2000nm， (略) 光源设计，焦点无色差，320mm焦距影像校正单色仪，双入口（自动狭缝），双出口（自动狭缝），双块光栅，透 (略) ，高通滤光片组，制冷型光电倍增管，光谱范围185-900nm，HVC1800、制冷驱动电源，单光子计数器，Omni-Win数据软件；闪烁体测试内置辐射光源：4-50Kv，功率：0-50W；钨靶；内置监视器；测试光斑可选：X射线光管准直；成像测试模块：成像面积：直径20mm，图像传感器分辨率20MP, 5472 (H) x 3648 (V)，像元尺寸2.4×2.4μm，量子效率84%@495nm，暗电流0.001e-/pixel/s，制冷温度-15℃，成像分辨率>20 lp/mm; 塑料闪烁体： ?30x15mm；15-10MeV；辐射剂量率50-10Sv/h；配UV-FN-360nm激光器，FLS-PSXRay皮秒脉冲X射线源，N*光激发X射线光管，M*-29+PLP-10 405nm皮秒激光器，DCS900PC 的TCSPC，FLS-XrayVP闪烁体测试，TFT读出系统。交付时间要求：2024年11月30日前，售后服务要求：整机免费保修2年以上（含软件升级），包含设备培训，培训时间>5小时，售后响应时间24h内。

A*其他光学仪器

设备名：闪烁体辐射探测和光谱成像系统，数量：1套；该设备是表征材料和器件物理性能测试的仪器，旨在为晶圆和器件提供稳定准确的真空和辐射探测及结构信息表征，使用后满足有机光电、微纳光电等研究方向的针对器件物理特性测量工作的需求；技术指标：OmniFluo960SP，75W氙灯，光谱范围200-2000nm， (略) 光源设计，焦点无色差，320mm焦距影像校正单色仪，双入口（自动狭缝），双出口（自动狭缝），双块光栅，透 (略) ，高通滤光片组，制冷型光电倍增管，光谱范围185-900nm，HVC1800、制冷驱动电源，单光子计数器，Omni-Win数据软件；闪烁体测试内置辐射光源：4-50Kv，功率：0-50W；钨靶；内置监视器；测试光斑可选：X射线光管准直；成像测试模块：成像面积：直径20mm，图像传感器分辨率20MP, 5472 (H) x 3648 (V)，像元尺寸2.4×2.4μm，量子效率84%@495nm，暗电流0.001e-/pixel/s，制冷温度-15℃，成像分辨率>20 lp/mm; 塑料闪烁体： ?30x15mm；15-10MeV；辐射剂量率50-10Sv/h；配UV-FN-360nm激光器，FLS-PSXRay皮秒脉冲X射线源，N*光激发X射线光管，M*-29+PLP-10 405nm皮秒激光器，DCS900PC 的TCSPC，FLS-XrayVP闪烁体测试，TFT读出系统。交付时间要求：2024年11月30日前，售后服务要求：整机免费保修2年以上（含软件升级），包含设备培训，培训时间>5小时，售后响应时间24h内。