A*多种原理分析仪

1. 主要功能1.1 可测量悬浮于液体中的纳米颗粒的Zeta电位1.2 可测量平面薄膜、平面固体、管状膜、纤维膜的Zeta电位1.3 可测量平面薄膜、平面固体、管状膜、纤维膜在不同pH环境中的Zeta电位，自动滴定改变pH值，测量等电点1.4 可测量悬浮于液体中的纳米颗粒的粒度和粒度分布，悬浮液的透光率、折光率、颗粒浓度，以及聚合物的分子量测量2. 技术规格2.1 纳米粒度测量具有多角度：15度、90度和175度以及多角度粒度分析2.2 粒径测量范围：0.3nm-10μm 2.3 固体表面Zeta电位测量范围无限制2.4 纳米颗粒Zeta电位测量范围：±1000mV2.5 流动电位测量范围：± 2000 mV2.6 流动电流测量范围：± 2 mA2.7 纳米颗粒Zeta电位测量灵敏度：0.1mg/ml2.8 纳米颗粒的粒度和Zeta电位测量采用动态光散射原理，以半导体激光器作为光源2.9 管状膜和平面固体表面的Zeta电位测量基于流动电势或流动电流原理，具备自动滴定系统3. 系统组成：ZETA电位和纳米粒度分析系统共4套设备组成，另外包含一套用于教学原理展示的教具。

A*多种原理分析仪

1. 主要功能1.1 可测量悬浮于液体中的纳米颗粒的Zeta电位1.2 可测量平面薄膜、平面固体、管状膜、纤维膜的Zeta电位1.3 可测量平面薄膜、平面固体、管状膜、纤维膜在不同pH环境中的Zeta电位，自动滴定改变pH值，测量等电点1.4 可测量悬浮于液体中的纳米颗粒的粒度和粒度分布，悬浮液的透光率、折光率、颗粒浓度，以及聚合物的分子量测量2. 技术规格2.1 纳米粒度测量具有多角度：15度、90度和175度以及多角度粒度分析2.2 粒径测量范围：0.3nm-10μm 2.3 固体表面Zeta电位测量范围无限制2.4 纳米颗粒Zeta电位测量范围：±1000mV2.5 流动电位测量范围：± 2000 mV2.6 流动电流测量范围：± 2 mA2.7 纳米颗粒Zeta电位测量灵敏度：0.1mg/ml2.8 纳米颗粒的粒度和Zeta电位测量采用动态光散射原理，以半导体激光器作为光源2.9 管状膜和平面固体表面的Zeta电位测量基于流动电势或流动电流原理，具备自动滴定系统3. 系统组成：ZETA电位和纳米粒度分析系统共4套设备组成，另外包含一套用于教学原理展示的教具。