A*射线式分析仪器

1.材料物相结构分析系统，1套，该设备用于材料的结构表征，包括物相组成、结构解析、原位电池变温测试，且能采用旋转样品台实现空气敏感样品变温物相测试等。 2.技术要求： 2.1 X射线光源部分 2.1.1 X光管类型：陶瓷X光管，Cu靶及Ag靶各一个 2.1.2. X光管最大功率：≥2.2 kW 2.1.3 光管座适配器,包含Cr，Co，Cu线焦斑光学元件安装位置 2.1.4 高压发生器最大输出功率：≥3kW ；电流电压稳定度：优于0.005% (外电压波动10%)时 2.2 测角仪 2.2.1 测角仪半径：≤300 mm，测角圆直径可连续改变 2.2.2 2θ转动范围：-110°～168° 2.2.3 可读最小步长：0.0001° 2.2.4 验收精度：国际标准样品现场检测，全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度。 2.3. 半导体阵列探测器 2.3.1 一维模式子探测器个数：≥190个； 2.3.2子探测器大小：≤75μm； *2.3.3 探测器整体背景噪音：< 0.1 cps； *2.3.4 能量分辨率：探测器本能量分辨率（ (略) 上使用任何类型的镜子、滤波片或者单色器的情况下）小于1000eV(相对于 CuKa能量分辨率小于12.5%)，能去除荧光，降低背景，降低检出限。 2.3.5 适合Cu、Co、Cr、Mo、Ag等波长。 2.3.6 4.0度索拉，2.5度索拉，0.0125mm Ni滤波片，0.02mmNi滤波片安装于探测器用；0.1mmCu吸收片及0.1mm、0.2mm、0.6mm、1mm、2mm、10.5mm狭缝 2.3.7 防空气散射屏； 2.4 粉末样品高温台：室温至1200℃； 2.5 毛细管样品台2个；样品旋转设备；包含显微镜的预准直设备；其中一个可加热至1100℃； 2.6 原位电池附件 2.7 粉末样品架30个，块体样品架8个，零背景样品架5个，dome样品架4个；毛细管，25根：玻璃材质，壁厚0.01mm，外径0.5mm；毛细管，50根：玻璃材质，外径0.3mm 2.8 水冷机； 2.9 稳压电源； 2.10 DIFFRAC.TOPAS软件，DIFFRAC.SUITE 软件狗 交付时间：2025年3月前；交付地点：中山大学深圳校区；售后服务要求（含培训）：2年质保，提供免费上门TOPAS结构精修培训2次。

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