A*光学式分析仪器

1. 基于开放式显微机台，搭配多波长激光器，实现显微荧光光谱、透射及反射光谱等检测功能。配备显微冷热台与源表，实现样品环境调控与光电流检测功能。 2. 配备100 W卤素光源与荧光落射器，实现显微镜下明场成像与光谱采集功能。 3. 配备100 W卤素光源用于透射照明，可实现400-1700 nm波段透反射光谱检测。 4. 配备405 nm激光器，功率100 mW，线宽3 nm。配备对应荧光滤光片组，可实现420~1000 nm荧光光谱接收。 5. 配备532 nm窄线宽拉曼激光器，功率100 mW，线宽小于1 MHz。配备对应荧光功能滤光片，可实现550~1000 nm以及900~1600 nm波段荧光光谱接收。 6. 系统配置覆盖紫外-可见波段的制冷型面阵背照式CCD光谱探测器，探测器波段范围覆盖不低于250-980 nm，制冷温度最低可达室温（@20℃）以下40℃，最短采集时间需为4 ms。 7.近红外波段配置制冷型InGaAs阵列探测器，波段范围覆盖不低于900-1700 nm，制冷温度最低可达室温（@20℃）以下40℃，最短采集时间需为1ms。 8. 配备高精度源表，最大电压量程200V，最大电流量程1A，电源功率20W；电压分辨率10 nV，电流分辨率10 fA。配备软件，支持IV、IT曲线以及光电流mapping测试。 9. 系统配置自动化控制软件，实现显微成像、光谱测量模式切换、快门控制、位移台控制、照明强度控制功能。软件支持基于样品图像，自定义选择待测点位及区域，进行光谱测量，支持多个样品点位记录存储功能，支持mapping数据的二次导入及分析。

A*光学式分析仪器

1. 基于开放式显微机台，搭配多波长激光器，实现显微荧光光谱、透射及反射光谱等检测功能。配备显微冷热台与源表，实现样品环境调控与光电流检测功能。 2. 配备100 W卤素光源与荧光落射器，实现显微镜下明场成像与光谱采集功能。 3. 配备100 W卤素光源用于透射照明，可实现400-1700 nm波段透反射光谱检测。 4. 配备405 nm激光器，功率100 mW，线宽3 nm。配备对应荧光滤光片组，可实现420~1000 nm荧光光谱接收。 5. 配备532 nm窄线宽拉曼激光器，功率100 mW，线宽小于1 MHz。配备对应荧光功能滤光片，可实现550~1000 nm以及900~1600 nm波段荧光光谱接收。 6. 系统配置覆盖紫外-可见波段的制冷型面阵背照式CCD光谱探测器，探测器波段范围覆盖不低于250-980 nm，制冷温度最低可达室温（@20℃）以下40℃，最短采集时间需为4 ms。 7.近红外波段配置制冷型InGaAs阵列探测器，波段范围覆盖不低于900-1700 nm，制冷温度最低可达室温（@20℃）以下40℃，最短采集时间需为1ms。 8. 配备高精度源表，最大电压量程200V，最大电流量程1A，电源功率20W；电压分辨率10 nV，电流分辨率10 fA。配备软件，支持IV、IT曲线以及光电流mapping测试。 9. 系统配置自动化控制软件，实现显微成像、光谱测量模式切换、快门控制、位移台控制、照明强度控制功能。软件支持基于样品图像，自定义选择待测点位及区域，进行光谱测量，支持多个样品点位记录存储功能，支持mapping数据的二次导入及分析。