A*电子元件参数测量仪

赛电桥综合实验仪： 1.用数字表非线性残差限明显小于其不确定度的特点，可得比表准确度指标更优的电阻测量结果。对于普通的四位半数字电压表，而本发明仪器的方法在多数情况下可达约0.030%或更小，甚至能优于表中A/D转换芯片的不确定度，因为本方法仪器不需要考虑芯片老化、漂移误差以及基准电压源的慢漂移误差等影响。 2.可含研究性层次实验：四位半数字电压表的误差和非线性残差的分布特征研究。提供了一个技术创新的典型学习案例。 3.学习用最小二乘法、最大残差(绝对值)极小法、残差限为对称射线法（使相对残差限最小）来进行过原点的直线拟合，加深对误差理论与不确定度评定要点的理解，拓展了数据处理的视野。 4.四位半多量程数字电压表测量范围：10-2～107Ω； 5.1～19V超低准静态内阻的可调直流稳压电源，输出电流>10mA； 6.0～1V电压源，最大电流5A； 7.0～10 mA输出的电流源，开路电压19V； 8.附被测金属棒1根。 9. (略) +软件服务系统：阿里云服务器，程序兼容安卓和 IOS 系统，须提供二维码识别，可进行信息采集、数据下载、售后服务线上报修等；

A*电子元件参数测量仪

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