A*物理特性分析仪器及校准仪器

名称：电子背散射衍射仪(EBSD) 数量：1台 主要功能：在已有能谱仪的基础上升级电子背散射衍射仪（EBSD）。广泛应用金属、合金、陶瓷、地质、半导体等领域，它的主要应用有晶粒尺寸、宏观织构、微区织构、再结晶 /变形分数、亚结构、应变分析、晶界表征、CSL 晶界、相鉴别、相分布、相变过程、失效分析等等。电子背散射衍射仪（EBSD）是材料性能和工艺分析的不可或缺的工具。 技术指标要求： 1. 高速低噪音CMOS相机，分辨率1244*1024，并能够与各主流型号的电镜良好配合； 2. EBSD在线解析最高标定速度不低于5700pps，此时花样分辨率仍能保持为156*128，快速； 3. 取向精度高达0.05度，精准； 4. 探头仰角自动调节马达，在探测器完全深入状态下，探测器Z轴可通过软件在+/-22.9 mm范围内任意调整，而无需重新校准即可连续采集EBSD数据； 5. 配有独立的操作手柄，能够实时显示探头位置，可选择直达指定位置或者步进模式控制探头就位； 6. 采用主动式防碰撞传感器设计，在碰撞发生前探测器自动预警并后撤，起到保护EBSD作用，安全可靠。 7. 探测器插入退出，最快速度：15mm/s，精度：10μm； 服务：质保期一年（验收完成后）并优质的技术服务及应用服务。

A*物理特性分析仪器及校准仪器

名称：电子背散射衍射仪(EBSD) 数量：1台 主要功能：在已有能谱仪的基础上升级电子背散射衍射仪（EBSD）。广泛应用金属、合金、陶瓷、地质、半导体等领域，它的主要应用有晶粒尺寸、宏观织构、微区织构、再结晶 /变形分数、亚结构、应变分析、晶界表征、CSL 晶界、相鉴别、相分布、相变过程、失效分析等等。电子背散射衍射仪（EBSD）是材料性能和工艺分析的不可或缺的工具。 技术指标要求： 1. 高速低噪音CMOS相机，分辨率1244*1024，并能够与各主流型号的电镜良好配合； 2. EBSD在线解析最高标定速度不低于5700pps，此时花样分辨率仍能保持为156*128，快速； 3. 取向精度高达0.05度，精准； 4. 探头仰角自动调节马达，在探测器完全深入状态下，探测器Z轴可通过软件在+/-22.9 mm范围内任意调整，而无需重新校准即可连续采集EBSD数据； 5. 配有独立的操作手柄，能够实时显示探头位置，可选择直达指定位置或者步进模式控制探头就位； 6. 采用主动式防碰撞传感器设计，在碰撞发生前探测器自动预警并后撤，起到保护EBSD作用，安全可靠。 7. 探测器插入退出，最快速度：15mm/s，精度：10μm； 服务：质保期一年（验收完成后）并优质的技术服务及应用服务。