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2025年3至10月政府采购意向-X射线半导体检测系统详细情况万元人民币
| X 射线半导体检测系统 | |
| 项目所在采购意向： | (略) 上海应用物理研究所2025年3至10月政府采购意向 |
| 采购单位： | (略) 上海应用物理研究所 |
| 采购项目名称： | X 射线半导体检测系统 |
| 预算金额： | 240.#万元(人民币) |
| 采购品目： | A#无损探伤机 |
| 采购需求概况 ： | 采购X射线半导体检测系统用于检测GaN半导体器件在强辐射场中辐照损伤的研究，该设备可对芯片内部进行成像，直观观察到制造缺陷、辐照损伤、核心晶片尺寸等关键信息，满足半导体检测的复杂需求。 |
| 预计采购时间： | 2025-09 |
| 备注： | |
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排，具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
| X 射线半导体检测系统 | |
| 项目所在采购意向： | (略) 上海应用物理研究所2025年3至10月政府采购意向 |
| 采购单位： | (略) 上海应用物理研究所 |
| 采购项目名称： | X 射线半导体检测系统 |
| 预算金额： | 240.#万元(人民币) |
| 采购品目： | A#无损探伤机 |
| 采购需求概况 ： | 采购X射线半导体检测系统用于检测GaN半导体器件在强辐射场中辐照损伤的研究，该设备可对芯片内部进行成像，直观观察到制造缺陷、辐照损伤、核心晶片尺寸等关键信息，满足半导体检测的复杂需求。 |
| 预计采购时间： | 2025-09 |
| 备注： | |
本次公开的采购意向是本单位政府采购工作的初步安排，具体采购项目情况以相关采购公告和采购文件为准。
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