C*核科学技术研究服务

标的名称：材料性能表征； 数量：1项； 材料性能表征是优化Nb3Sn薄膜生长、铜铌/铝铌复合结构材料制备过程并最终实现工艺固化的必需。通过多维度、高精度材料表征技术，分析Nb3Sn薄膜超导腔和铜铌/铝铌复合结构跟踪样片的微观结构、成分分布及超导性能，建立工艺参数（如沉积温度、锡蒸汽分压、扩散时间、中间过渡涂层制备属性、复合材料属性等）与薄膜质量、扩散过程、界面耦合、热/电/力响应等的关联性模型，通过样片薄膜生长/材料复合状态反演腔内薄膜质量，指导镀膜工艺与复合过程的迭代优化，缩短工艺迭代周期 本次采购包括： 1. 形貌与结构分析：SEM（扫描电子显微镜）用于薄膜表面形貌及缺陷观测（预计每年测1000样）、FIB-SEM（聚焦离子束-扫描电镜，预计每年测60样）分析薄膜厚度均匀性及界面扩散层、TEM（透射电子显微镜，预计每年测55样）用于晶格结构、位错及界面原子级表征、AFM（原子力显微镜，预计每年测100样）评估表面粗糙度。 2. 晶体学与成分分析：GIXRD（掠入射X射线衍射，预计每年测300样）分析薄膜晶体取向及相组成、EBSD（电子背散射衍射，预计每年测50样）统计晶界分布及晶粒取向差、XPS（X射线光电子能谱，预计每年测300样）分析表面化学成分及氧化态、TOF-SIMS（飞行时间二次离子质谱，预计每年测50样）表征元素纵向分布及杂质含量、三维原子探针重建界面元素三维分布。 3. 物理性能测试：PPMS（综合物性测量系统，预计每年测100样）测量超导转变温度临界磁场、激光热导仪评估薄膜热输运特性（预计每年测140f样）、硬度测试分析薄膜和镀层的力学性能（预计每年测100样）。 数据交付要求：提供原始检测数据、分析报告及标准化图表（如SEM形貌图、XRD谱峰拟合结果、元素分布三维重构图等）。针对关键参数（如Tc、表面粗糙度等）提供统计学分析（均值、标准差 (略) 间）。 合同签订后每年都需根据当年度测试服务完成情况，交付当年度的测试结果，经验收后，单独结算该年度测试费用。 在*方提出测试需求后，*方须在24小时内做出响应，制定测试方案，并确定最近的测试时间。 *方的服务期限为七年，服务过程中的安全问题由*方负责。

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标的名称：材料性能表征； 数量：1项； 材料性能表征是优化Nb3Sn薄膜生长、铜铌/铝铌复合结构材料制备过程并最终实现工艺固化的必需。通过多维度、高精度材料表征技术，分析Nb3Sn薄膜超导腔和铜铌/铝铌复合结构跟踪样片的微观结构、成分分布及超导性能，建立工艺参数（如沉积温度、锡蒸汽分压、扩散时间、中间过渡涂层制备属性、复合材料属性等）与薄膜质量、扩散过程、界面耦合、热/电/力响应等的关联性模型，通过样片薄膜生长/材料复合状态反演腔内薄膜质量，指导镀膜工艺与复合过程的迭代优化，缩短工艺迭代周期 本次采购包括： 1. 形貌与结构分析：SEM（扫描电子显微镜）用于薄膜表面形貌及缺陷观测（预计每年测1000样）、FIB-SEM（聚焦离子束-扫描电镜，预计每年测60样）分析薄膜厚度均匀性及界面扩散层、TEM（透射电子显微镜，预计每年测55样）用于晶格结构、位错及界面原子级表征、AFM（原子力显微镜，预计每年测100样）评估表面粗糙度。 2. 晶体学与成分分析：GIXRD（掠入射X射线衍射，预计每年测300样）分析薄膜晶体取向及相组成、EBSD（电子背散射衍射，预计每年测50样）统计晶界分布及晶粒取向差、XPS（X射线光电子能谱，预计每年测300样）分析表面化学成分及氧化态、TOF-SIMS（飞行时间二次离子质谱，预计每年测50样）表征元素纵向分布及杂质含量、三维原子探针重建界面元素三维分布。 3. 物理性能测试：PPMS（综合物性测量系统，预计每年测100样）测量超导转变温度临界磁场、激光热导仪评估薄膜热输运特性（预计每年测140f样）、硬度测试分析薄膜和镀层的力学性能（预计每年测100样）。 数据交付要求：提供原始检测数据、分析报告及标准化图表（如SEM形貌图、XRD谱峰拟合结果、元素分布三维重构图等）。针对关键参数（如Tc、表面粗糙度等）提供统计学分析（均值、标准差 (略) 间）。 合同签订后每年都需根据当年度测试服务完成情况，交付当年度的测试结果，经验收后，单独结算该年度测试费用。 在*方提出测试需求后，*方须在24小时内做出响应，制定测试方案，并确定最近的测试时间。 *方的服务期限为七年，服务过程中的安全问题由*方负责。