显微分光膜厚仪

内容
 
发送至邮箱

显微分光膜厚仪


竞价结果详细( 点击查看>> )---- (略) 先进电子材料国 (略)
申购单主题：显微分光膜厚仪申购单位：采购办
审批时间：申购备注：
设备名称 (略) 商型号是否标配规格数量 报价类型售后服务附件
显微分光膜厚仪 大塚电子 OPTM-A1T 是 1、测试头要求：1.1膜厚精度：1μm未满：NIST认定试料（SiO2/Si）的膜厚保证范围内 1μm以上：±0.2%1.2重复精度：膜厚测量（Si基板上SiO2膜） * nm未满：0.1nm * nm以上：0. * % 反射率测量： * nm~ * nm：0.5%1.3多层膜解析：最大 * 层1.4测试范围：1nm~ * μm1.5测试头包含测试头本体，对物镜和标准铝镜2、自动XY平台要求：2.1重复精度：2μm2.2驱动分辨率：1μm2.3 XY自动平台尺寸为 * * * mm，附带域传感器3、控制器要求：包含控制器本体及紧急停止用的蘑菇型开关4、电脑以及软件功能参数： 3.1测定：菜单测量/连续测量/映射测量/微测量/测量同时演算功能 3.2解析：最小 * 乘法、最适法、周期解析(FFT) 峰谷法(PV)法、基板解析、里面反射补正、各种光学常数(nk)、解析模型式、图表显示（等高线/3D）对反射率/解析结果fitting/光学常数（nk）的波长依存性 复数点解析 3.3系统维护：材料膜构筑(数据库管理)、硬件的各种设定 3.4调整功能：图形调整、post解析、通信命令对应 3.5 电脑为Windows * 笔记本PC5、晶圆支架：4/6/8寸晶圆支架，国内采购6、反射对物镜：（ * 倍，Φ3μm） 1.0 进口免税价;
人民币		 下载
中标供应商是否满足单价售后服务 备注初选理由
大塚电子（ (略) ）有限公司是 点击查看>> .0最低价原则

竞价结果详细( 点击查看>> )---- (略) 先进电子材料国 (略)
申购单主题：显微分光膜厚仪申购单位：采购办
审批时间：申购备注：
设备名称 (略) 商型号是否标配规格数量 报价类型售后服务附件
显微分光膜厚仪 大塚电子 OPTM-A1T 是 1、测试头要求：1.1膜厚精度：1μm未满：NIST认定试料（SiO2/Si）的膜厚保证范围内 1μm以上：±0.2%1.2重复精度：膜厚测量（Si基板上SiO2膜） * nm未满：0.1nm * nm以上：0. * % 反射率测量： * nm~ * nm：0.5%1.3多层膜解析：最大 * 层1.4测试范围：1nm~ * μm1.5测试头包含测试头本体，对物镜和标准铝镜2、自动XY平台要求：2.1重复精度：2μm2.2驱动分辨率：1μm2.3 XY自动平台尺寸为 * * * mm，附带域传感器3、控制器要求：包含控制器本体及紧急停止用的蘑菇型开关4、电脑以及软件功能参数： 3.1测定：菜单测量/连续测量/映射测量/微测量/测量同时演算功能 3.2解析：最小 * 乘法、最适法、周期解析(FFT) 峰谷法(PV)法、基板解析、里面反射补正、各种光学常数(nk)、解析模型式、图表显示（等高线/3D）对反射率/解析结果fitting/光学常数（nk）的波长依存性 复数点解析 3.3系统维护：材料膜构筑(数据库管理)、硬件的各种设定 3.4调整功能：图形调整、post解析、通信命令对应 3.5 电脑为Windows * 笔记本PC5、晶圆支架：4/6/8寸晶圆支架，国内采购6、反射对物镜：（ * 倍，Φ3μm） 1.0 进口免税价;
人民币		 下载
中标供应商是否满足单价售后服务 备注初选理由
大塚电子（ (略) ）有限公司是 点击查看>> .0最低价原则
    
查看详情》

招标
代理

-

关注我们可获得更多采购需求

已关注
相关推荐
 

招投标大数据

查看详情

收藏

首页

登录

搜索

最近搜索

无

热门搜索

无