品牌

Nirmidas Biotech

型号

MidaScan-IR

(略) 商

Nirmidas Biotech

产地信息

美国

技术规格及参数

1工作电压：220±5% V
2 操作温度：0-35℃
3 湿度：环境湿度
4 扫描分辨率：最大扫描分辨率3微米
5 光学分辨率：最大光学分辨率3微米
6 激发波长：近红外波长范围（双激发波长：670nm, 785nm）
7 基片格式：标准载玻片25mm x（75—76）mm x(1-1.2)mm
8扫描范围：扫描范围22mm x74 mm
9扫描速度：扫描速度10行/秒
10扫描均匀性：CV < 5%
11扫描模式：并行或串行
12 可兼容荧光分子：
670 nm: Alexafluor 680, Alexafluor 700, DyLight 680, IRDye 680
785 nm: Alexafluor 790, IRDye 800, DyLight 800
13 可兼容 pGOLD纳米镀膜金芯片卡槽
14 聚焦方式：自动或手动
15 图像格式：tiff
16 配套图像分析软件可对芯片扫描图片上任意排列点阵进行荧光分析,获取点阵上荧光强度(中值,平均值),背景荧光强度,将具体数值以表格或文件形式显示.
17操作软件兼容Windows 11/10/7；


二、配置清单
2.1 微阵列芯片扫描仪主机一台
2.2 电脑一台
2.3仪器原装分析软件一套
2.4使用说明书一份
2.5合格证书一份


1 质保期：1 年；
2 配套附赠快速芯片分液器；
3 配套提供pGOLD纳米镀膜金芯片（支持荧光放大 100 倍）1 盒（10 片）；

售后及质保要求

售后： 点击查看>> 方对货物及其随机配件提供1年的保修期，该保修期自货物验收合格之日起计算。

质保要求： 点击查看>> 方对货物及其随机配件提供1年的质量保证期。在质量保证期内经 点击查看>> 方按检验标准或委托有资质的相关质检机构发现，合同货物的数量、质量、规格不符合法定和约定要求或者合同项货物存在缺陷的，该缺陷包括潜在的缺陷、瑕疵或使用不符合要求的材料等； 点击查看>> 方应尽快以书面形式通知 点击查看>> 方。 点击查看>> 方应在收到 点击查看>> 方前述通知之日起7个工作日内免费上门维修或更换不符或有缺 (略) 件。 点击查看>> 方还应赔偿 点击查看>> 方因前述不符或缺陷而遭受的损失。

品牌

Nirmidas Biotech

型号

MidaScan-IR

(略) 商

Nirmidas Biotech

产地信息

美国

技术规格及参数

1工作电压：220±5% V
2 操作温度：0-35℃
3 湿度：环境湿度
4 扫描分辨率：最大扫描分辨率3微米
5 光学分辨率：最大光学分辨率3微米
6 激发波长：近红外波长范围（双激发波长：670nm, 785nm）
7 基片格式：标准载玻片25mm x（75—76）mm x(1-1.2)mm
8扫描范围：扫描范围22mm x74 mm
9扫描速度：扫描速度10行/秒
10扫描均匀性：CV < 5%
11扫描模式：并行或串行
12 可兼容荧光分子：
670 nm: Alexafluor 680, Alexafluor 700, DyLight 680, IRDye 680
785 nm: Alexafluor 790, IRDye 800, DyLight 800
13 可兼容 pGOLD纳米镀膜金芯片卡槽
14 聚焦方式：自动或手动
15 图像格式：tiff
16 配套图像分析软件可对芯片扫描图片上任意排列点阵进行荧光分析,获取点阵上荧光强度(中值,平均值),背景荧光强度,将具体数值以表格或文件形式显示.
17操作软件兼容Windows 11/10/7；


二、配置清单
2.1 微阵列芯片扫描仪主机一台
2.2 电脑一台
2.3仪器原装分析软件一套
2.4使用说明书一份
2.5合格证书一份


1 质保期：1 年；
2 配套附赠快速芯片分液器；
3 配套提供pGOLD纳米镀膜金芯片（支持荧光放大 100 倍）1 盒（10 片）；

售后及质保要求

售后： 点击查看>> 方对货物及其随机配件提供1年的保修期，该保修期自货物验收合格之日起计算。

质保要求： 点击查看>> 方对货物及其随机配件提供1年的质量保证期。在质量保证期内经 点击查看>> 方按检验标准或委托有资质的相关质检机构发现，合同货物的数量、质量、规格不符合法定和约定要求或者合同项货物存在缺陷的，该缺陷包括潜在的缺陷、瑕疵或使用不符合要求的材料等； 点击查看>> 方应尽快以书面形式通知 点击查看>> 方。 点击查看>> 方应在收到 点击查看>> 方前述通知之日起7个工作日内免费上门维修或更换不符或有缺 (略) 件。 点击查看>> 方还应赔偿 点击查看>> 方因前述不符或缺陷而遭受的损失。