半导体参数测试仪(A-WZBX0387)成交结果公告

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半导体参数测试仪(A-WZBX0387)成交结果公告

项目名称半导体参数测试仪项目编号A-WZBX0387
公告开始日期*公告截止日期*
采购单位厦门大学付款方式
联系人中标后在我参与的项目中查看联系电话中标后在我参与的项目中查看
签约时间要求到货时间要求
预 算*.0
收货地址厦门大学海韵园物理科学技术大楼351
供应商资质要求

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件

采购商品采购数量计量单位所属分类
半导体参数测试仪1
品牌
型号
品牌2
型号
品牌3
型号
预算*.0
技术参数及配置要求1.B1505A主机技术指标唯一能够对sub-pA电平至10kV和1500A的高功率器件进行表征的综合解决方案支持多达10插槽的可配置和可升级的测量模块广泛的测量模块选择支持具有高达6个连接引脚的高功率器件多达5个高电压(3kV)电源/测量通道,提供最大的灵活性测试软件即可安装在仪器或PC上做数据处理,并且可控制外部脉冲发生器、阻抗分析仪等仪器支持GPIB、USB、LAN接口和VGA视频输出端口2. B1511B中等功率电源模块(MPSMU)技术指标最大输出电压:±100 V电压测量分辨率:0.5 μV电压源分辨率:25 μV最大输出电流:±100 mA电流测量分辨率:10 fA电流源分辨率:50 fA3. B1520A多频率电容测量单元(MFCMU)技术指标频率范围:1 kHz 至 5 MHz最小频率分辨率:1 mHz源频率精度:±0.008%信号输出电平范围:10 mVrms - 250 mVrms信号输出电平分辨率:1 mVrms输出阻抗:50 ?(典型值)DC偏置电压:±25V(单独使用MFCMU)DC偏置分辨率:1 mV支持多频率交流阻抗测量,包括:C-V、C-f、C-t支持的测量参数: Cp-G、Cp-D、Cp-Q、Cp-Rs、Cs-Rs、Cs-D、Cs-Q、Lp-G、Lp-D、Lp-Q、Lp-Rs、Ls-Rs、Ls-D、Ls-Q、R-X、G-B、Z-θ、Y-θ
售后服务

信息来源:http://**
项目名称半导体参数测试仪项目编号A-WZBX0387
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技术参数及配置要求1.B1505A主机技术指标唯一能够对sub-pA电平至10kV和1500A的高功率器件进行表征的综合解决方案支持多达10插槽的可配置和可升级的测量模块广泛的测量模块选择支持具有高达6个连接引脚的高功率器件多达5个高电压(3kV)电源/测量通道,提供最大的灵活性测试软件即可安装在仪器或PC上做数据处理,并且可控制外部脉冲发生器、阻抗分析仪等仪器支持GPIB、USB、LAN接口和VGA视频输出端口2. B1511B中等功率电源模块(MPSMU)技术指标最大输出电压:±100 V电压测量分辨率:0.5 μV电压源分辨率:25 μV最大输出电流:±100 mA电流测量分辨率:10 fA电流源分辨率:50 fA3. B1520A多频率电容测量单元(MFCMU)技术指标频率范围:1 kHz 至 5 MHz最小频率分辨率:1 mHz源频率精度:±0.008%信号输出电平范围:10 mVrms - 250 mVrms信号输出电平分辨率:1 mVrms输出阻抗:50 ?(典型值)DC偏置电压:±25V(单独使用MFCMU)DC偏置分辨率:1 mV支持多频率交流阻抗测量,包括:C-V、C-f、C-t支持的测量参数: Cp-G、Cp-D、Cp-Q、Cp-Rs、Cs-Rs、Cs-D、Cs-Q、Lp-G、Lp-D、Lp-Q、Lp-Rs、Ls-Rs、Ls-D、Ls-Q、R-X、G-B、Z-θ、Y-θ
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