透射电子显微镜样品的聚焦离子束-电子束FIB微纳加工

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透射电子显微镜样品的聚焦离子束-电子束FIB微纳加工

采购信息

采购单位名称

物理与 (略)

采购项目名称

透射电子显微镜样品的聚焦离子束-电子束(FIB)微纳加工

成交供应商

安徽 (略)

成 交 价

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公示时间

自发布公示之日起2个工作日

采 购 清 单

序号

物资名称

规格型号

单 价

数 量

技术参数

1

透射电子显微镜样品的聚焦离子束-电子束(FIB)微纳加工

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#

1项

对#方提供的基础样品利用FIB进行各向多角度多尺寸切割。径向切割(平提)16个。轴向切割(竖提)11个。再根据测试反馈修正角度,加工6个样品。样品厚度控制在50-150nm,符合透射电镜电子显微镜观测的需要。根据#方单位要求,个性化设计所需样品的宽度和厚度,范围在100 nm到10 um。提供制备后样品的扫描电镜表征图。

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