科技创新研究院高性能光纤光谱仪采购项目竞价成交公告
科技创新研究院高性能光纤光谱仪采购项目竞价成交公告
序号 | 名称 | 品牌/型号 | 数量(单位) | 单价(元) | 应标技术参数 |
1 | 光纤光谱仪 | 海洋光学/QEPro | 1/台 | (略) | 1、波长范围:≥200~980nm; 2、检测器:薄型背照式面阵CCD,有效像素≥1024×58像元,且带有三级TE制冷,制冷恒定可达-10℃; 3、光路:f/4,对称交叉式Czerny-Turner,输入焦距和输出焦距≥101mm; 4、积分时间与信噪比:积分时间≥8ms~60min,信噪比≥1000:1(全信号); 5、支持原位连续或单次采集力致发光、光致、电致等样品器件的发射光谱;全波长光谱数据可手动及定时自动保存硬盘中(需提供:定时自动保存至硬盘功能的软件截图予以证明); 6、支持实时谱图的高速采集,最大频率125Hz,可生成随时间变化的三维光谱图(全波长); 7、任意指定某一波长、某几个波长的数据进行实时趋势检测,并生成趋势图,连续自动存储数据于硬盘,连续运行时间≥7×24小时;趋势功能带有记忆(沿用上次设定、波长定义、公式); 8、测量数据导出为Excel、txt文档、Jpg图片等; 9、支持外部TTL信号触发及光敏触发测量,支持单次触发和多次触发;支持TCP-IP通讯光谱采集软件;光谱分析软件支持C++/ (略) 的二次开发(需提供:TCP-IP通讯例子截图及其说明文档截图予以证明,和二次开发DLL例子截图及其说明文档截图予以证明); 10、吸收检测能力:≥380~950nm光谱范围的A吸光度OD检测能力不小于4.5(验收测试重点考核指标) 11、薄膜厚度测量:膜厚测量能力范围不小于10nm~350um |
序号 | 名称 | 品牌/型号 | 数量(单位) | 单价(元) | 应标技术参数 |
1 | 光纤光谱仪 | 海洋光学/QEPro | 1/台 | (略) | 1、波长范围:≥200~980nm; 2、检测器:薄型背照式面阵CCD,有效像素≥1024×58像元,且带有三级TE制冷,制冷恒定可达-10℃; 3、光路:f/4,对称交叉式Czerny-Turner,输入焦距和输出焦距≥101mm; 4、积分时间与信噪比:积分时间≥8ms~60min,信噪比≥1000:1(全信号); 5、支持原位连续或单次采集力致发光、光致、电致等样品器件的发射光谱;全波长光谱数据可手动及定时自动保存硬盘中(需提供:定时自动保存至硬盘功能的软件截图予以证明); 6、支持实时谱图的高速采集,最大频率125Hz,可生成随时间变化的三维光谱图(全波长); 7、任意指定某一波长、某几个波长的数据进行实时趋势检测,并生成趋势图,连续自动存储数据于硬盘,连续运行时间≥7×24小时;趋势功能带有记忆(沿用上次设定、波长定义、公式); 8、测量数据导出为Excel、txt文档、Jpg图片等; 9、支持外部TTL信号触发及光敏触发测量,支持单次触发和多次触发;支持TCP-IP通讯光谱采集软件;光谱分析软件支持C++/ (略) 的二次开发(需提供:TCP-IP通讯例子截图及其说明文档截图予以证明,和二次开发DLL例子截图及其说明文档截图予以证明); 10、吸收检测能力:≥380~950nm光谱范围的A吸光度OD检测能力不小于4.5(验收测试重点考核指标) 11、薄膜厚度测量:膜厚测量能力范围不小于10nm~350um |
序号 | 名称 | 品牌/型号 | 数量(单位) | 单价(元) | 应标技术参数 |
1 | 光纤光谱仪 | 海洋光学/QEPro | 1/台 | (略) | 1、波长范围:≥200~980nm; 2、检测器:薄型背照式面阵CCD,有效像素≥1024×58像元,且带有三级TE制冷,制冷恒定可达-10℃; 3、光路:f/4,对称交叉式Czerny-Turner,输入焦距和输出焦距≥101mm; 4、积分时间与信噪比:积分时间≥8ms~60min,信噪比≥1000:1(全信号); 5、支持原位连续或单次采集力致发光、光致、电致等样品器件的发射光谱;全波长光谱数据可手动及定时自动保存硬盘中(需提供:定时自动保存至硬盘功能的软件截图予以证明); 6、支持实时谱图的高速采集,最大频率125Hz,可生成随时间变化的三维光谱图(全波长); 7、任意指定某一波长、某几个波长的数据进行实时趋势检测,并生成趋势图,连续自动存储数据于硬盘,连续运行时间≥7×24小时;趋势功能带有记忆(沿用上次设定、波长定义、公式); 8、测量数据导出为Excel、txt文档、Jpg图片等; 9、支持外部TTL信号触发及光敏触发测量,支持单次触发和多次触发;支持TCP-IP通讯光谱采集软件;光谱分析软件支持C++/ (略) 的二次开发(需提供:TCP-IP通讯例子截图及其说明文档截图予以证明,和二次开发DLL例子截图及其说明文档截图予以证明); 10、吸收检测能力:≥380~950nm光谱范围的A吸光度OD检测能力不小于4.5(验收测试重点考核指标) 11、薄膜厚度测量:膜厚测量能力范围不小于10nm~350um |
序号 | 名称 | 品牌/型号 | 数量(单位) | 单价(元) | 应标技术参数 |
1 | 光纤光谱仪 | 海洋光学/QEPro | 1/台 | (略) | 1、波长范围:≥200~980nm; 2、检测器:薄型背照式面阵CCD,有效像素≥1024×58像元,且带有三级TE制冷,制冷恒定可达-10℃; 3、光路:f/4,对称交叉式Czerny-Turner,输入焦距和输出焦距≥101mm; 4、积分时间与信噪比:积分时间≥8ms~60min,信噪比≥1000:1(全信号); 5、支持原位连续或单次采集力致发光、光致、电致等样品器件的发射光谱;全波长光谱数据可手动及定时自动保存硬盘中(需提供:定时自动保存至硬盘功能的软件截图予以证明); 6、支持实时谱图的高速采集,最大频率125Hz,可生成随时间变化的三维光谱图(全波长); 7、任意指定某一波长、某几个波长的数据进行实时趋势检测,并生成趋势图,连续自动存储数据于硬盘,连续运行时间≥7×24小时;趋势功能带有记忆(沿用上次设定、波长定义、公式); 8、测量数据导出为Excel、txt文档、Jpg图片等; 9、支持外部TTL信号触发及光敏触发测量,支持单次触发和多次触发;支持TCP-IP通讯光谱采集软件;光谱分析软件支持C++/ (略) 的二次开发(需提供:TCP-IP通讯例子截图及其说明文档截图予以证明,和二次开发DLL例子截图及其说明文档截图予以证明); 10、吸收检测能力:≥380~950nm光谱范围的A吸光度OD检测能力不小于4.5(验收测试重点考核指标) 11、薄膜厚度测量:膜厚测量能力范围不小于10nm~350um |
序号 | 名称 | 品牌/型号 | 数量(单位) | 单价(元) | 应标技术参数 |
1 | 光纤光谱仪 | 海洋光学/QEPro | 1/台 | (略) | 1、波长范围:≥200~980nm; 2、检测器:薄型背照式面阵CCD,有效像素≥1024×58像元,且带有三级TE制冷,制冷恒定可达-10℃; 3、光路:f/4,对称交叉式Czerny-Turner,输入焦距和输出焦距≥101mm; 4、积分时间与信噪比:积分时间≥8ms~60min,信噪比≥1000:1(全信号); 5、支持原位连续或单次采集力致发光、光致、电致等样品器件的发射光谱;全波长光谱数据可手动及定时自动保存硬盘中(需提供:定时自动保存至硬盘功能的软件截图予以证明); 6、支持实时谱图的高速采集,最大频率125Hz,可生成随时间变化的三维光谱图(全波长); 7、任意指定某一波长、某几个波长的数据进行实时趋势检测,并生成趋势图,连续自动存储数据于硬盘,连续运行时间≥7×24小时;趋势功能带有记忆(沿用上次设定、波长定义、公式); 8、测量数据导出为Excel、txt文档、Jpg图片等; 9、支持外部TTL信号触发及光敏触发测量,支持单次触发和多次触发;支持TCP-IP通讯光谱采集软件;光谱分析软件支持C++/ (略) 的二次开发(需提供:TCP-IP通讯例子截图及其说明文档截图予以证明,和二次开发DLL例子截图及其说明文档截图予以证明); 10、吸收检测能力:≥380~950nm光谱范围的A吸光度OD检测能力不小于4.5(验收测试重点考核指标) 11、薄膜厚度测量:膜厚测量能力范围不小于10nm~350um |
序号 | 名称 | 品牌/型号 | 数量(单位) | 单价(元) | 应标技术参数 |
1 | 光纤光谱仪 | 海洋光学/QEPro | 1/台 | (略) | 1、波长范围:≥200~980nm; 2、检测器:薄型背照式面阵CCD,有效像素≥1024×58像元,且带有三级TE制冷,制冷恒定可达-10℃; 3、光路:f/4,对称交叉式Czerny-Turner,输入焦距和输出焦距≥101mm; 4、积分时间与信噪比:积分时间≥8ms~60min,信噪比≥1000:1(全信号); 5、支持原位连续或单次采集力致发光、光致、电致等样品器件的发射光谱;全波长光谱数据可手动及定时自动保存硬盘中(需提供:定时自动保存至硬盘功能的软件截图予以证明); 6、支持实时谱图的高速采集,最大频率125Hz,可生成随时间变化的三维光谱图(全波长); 7、任意指定某一波长、某几个波长的数据进行实时趋势检测,并生成趋势图,连续自动存储数据于硬盘,连续运行时间≥7×24小时;趋势功能带有记忆(沿用上次设定、波长定义、公式); 8、测量数据导出为Excel、txt文档、Jpg图片等; 9、支持外部TTL信号触发及光敏触发测量,支持单次触发和多次触发;支持TCP-IP通讯光谱采集软件;光谱分析软件支持C++/ (略) 的二次开发(需提供:TCP-IP通讯例子截图及其说明文档截图予以证明,和二次开发DLL例子截图及其说明文档截图予以证明); 10、吸收检测能力:≥380~950nm光谱范围的A吸光度OD检测能力不小于4.5(验收测试重点考核指标) 11、薄膜厚度测量:膜厚测量能力范围不小于10nm~350um |
序号 | 名称 | 品牌/型号 | 数量(单位) | 单价(元) | 应标技术参数 |
1 | 光纤光谱仪 | 海洋光学/QEPro | 1/台 | (略) | 1、波长范围:≥200~980nm; 2、检测器:薄型背照式面阵CCD,有效像素≥1024×58像元,且带有三级TE制冷,制冷恒定可达-10℃; 3、光路:f/4,对称交叉式Czerny-Turner,输入焦距和输出焦距≥101mm; 4、积分时间与信噪比:积分时间≥8ms~60min,信噪比≥1000:1(全信号); 5、支持原位连续或单次采集力致发光、光致、电致等样品器件的发射光谱;全波长光谱数据可手动及定时自动保存硬盘中(需提供:定时自动保存至硬盘功能的软件截图予以证明); 6、支持实时谱图的高速采集,最大频率125Hz,可生成随时间变化的三维光谱图(全波长); 7、任意指定某一波长、某几个波长的数据进行实时趋势检测,并生成趋势图,连续自动存储数据于硬盘,连续运行时间≥7×24小时;趋势功能带有记忆(沿用上次设定、波长定义、公式); 8、测量数据导出为Excel、txt文档、Jpg图片等; 9、支持外部TTL信号触发及光敏触发测量,支持单次触发和多次触发;支持TCP-IP通讯光谱采集软件;光谱分析软件支持C++/ (略) 的二次开发(需提供:TCP-IP通讯例子截图及其说明文档截图予以证明,和二次开发DLL例子截图及其说明文档截图予以证明); 10、吸收检测能力:≥380~950nm光谱范围的A吸光度OD检测能力不小于4.5(验收测试重点考核指标) 11、薄膜厚度测量:膜厚测量能力范围不小于10nm~350um |
序号 | 名称 | 品牌/型号 | 数量(单位) | 单价(元) | 应标技术参数 |
1 | 光纤光谱仪 | 海洋光学/QEPro | 1/台 | (略) | 1、波长范围:≥200~980nm; 2、检测器:薄型背照式面阵CCD,有效像素≥1024×58像元,且带有三级TE制冷,制冷恒定可达-10℃; 3、光路:f/4,对称交叉式Czerny-Turner,输入焦距和输出焦距≥101mm; 4、积分时间与信噪比:积分时间≥8ms~60min,信噪比≥1000:1(全信号); 5、支持原位连续或单次采集力致发光、光致、电致等样品器件的发射光谱;全波长光谱数据可手动及定时自动保存硬盘中(需提供:定时自动保存至硬盘功能的软件截图予以证明); 6、支持实时谱图的高速采集,最大频率125Hz,可生成随时间变化的三维光谱图(全波长); 7、任意指定某一波长、某几个波长的数据进行实时趋势检测,并生成趋势图,连续自动存储数据于硬盘,连续运行时间≥7×24小时;趋势功能带有记忆(沿用上次设定、波长定义、公式); 8、测量数据导出为Excel、txt文档、Jpg图片等; 9、支持外部TTL信号触发及光敏触发测量,支持单次触发和多次触发;支持TCP-IP通讯光谱采集软件;光谱分析软件支持C++/ (略) 的二次开发(需提供:TCP-IP通讯例子截图及其说明文档截图予以证明,和二次开发DLL例子截图及其说明文档截图予以证明); 10、吸收检测能力:≥380~950nm光谱范围的A吸光度OD检测能力不小于4.5(验收测试重点考核指标) 11、薄膜厚度测量:膜厚测量能力范围不小于10nm~350um |
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