基于FPGA的声学多普勒流速剖面仪信号处理方法及系统等三项专利成果的使用权转让许可/普通许可
基于FPGA的声学多普勒流速剖面仪信号处理方法及系统等三项专利成果的使用权转让许可/普通许可
所有权人 | 专利号 | ||
---|---|---|---|
浙江工业大学 | ZL*.8 ZL*.4 *.7 | ||
拟受让单 (略) 域 | 联系邮箱 | 受让方是否是成果完成人或者其利害关系人 | |
*@*ttp://** | 否 | ||
出让方式 | 公示备注 | ||
普通许可 | -- |
"涉及一种基于循环切割和重排的现场可编程门阵列卷积层的动态优化方法、一种基于FPGA (略) 的正弦信号相位差测量方法、基于FPGA的声学多普勒流速剖面 (略) 理方法及系统共三项专利的使用权转让许可,三项专利简介如下:n(1)一种使用高层次综合工具在 (略) 上进行开发,基于现场可编程门阵列卷积层的动态优化方法。 n(2)一种基于FPGA (略) ,可有效提高测量精度的正弦信号相位差测量方法。n(3)一种基于FPGA的声学多普勒流速剖面 (略) 理方法以及一种基于FPGA的声学多普勒流速剖面 (略) 理系统。n"
所有权人 | 专利号 | ||
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浙江工业大学 | ZL*.8 ZL*.4 *.7 | ||
拟受让单 (略) 域 | 联系邮箱 | 受让方是否是成果完成人或者其利害关系人 | |
*@*ttp://** | 否 | ||
出让方式 | 公示备注 | ||
普通许可 | -- |
"涉及一种基于循环切割和重排的现场可编程门阵列卷积层的动态优化方法、一种基于FPGA (略) 的正弦信号相位差测量方法、基于FPGA的声学多普勒流速剖面 (略) 理方法及系统共三项专利的使用权转让许可,三项专利简介如下:n(1)一种使用高层次综合工具在 (略) 上进行开发,基于现场可编程门阵列卷积层的动态优化方法。 n(2)一种基于FPGA (略) ,可有效提高测量精度的正弦信号相位差测量方法。n(3)一种基于FPGA的声学多普勒流速剖面 (略) 理方法以及一种基于FPGA的声学多普勒流速剖面 (略) 理系统。n"
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