(XJ021092600241)X荧光镀层测厚仪

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询价公告

询价标题X荧光镀层测厚仪场次号XJ 点击查看>>
询价开始时间 点击查看>> * : * 询价结束时间 点击查看>> * : *
参与方式非定向询价出价方式 * 次性出价
发布单位 (略) 航天机 (略) 最终用户 (略) 航天机 (略)
联系人石岩松联系方式 点击查看>>
付款方式预付款交货期自下单后 * 天内交货至指定地点
签章要求报价单不需电子签章保证金要求无需缴纳保证金
报价要求报价包含运费 (略) 产品报价 供应商可设置最小起订量 发票要求增值税专票
比选方式综合比选成交价格(成交结果公示):显示
附件
备注元素分析范围:从硫到铀 同时检测元素:最多 * 个元素,多达 * 层镀层 检出限:可达2ppm,最薄可测试0. * um 分析含量: * 般为2ppm到 * .9% 镀层厚度: * 般在 * um以内,重复性可达0.1% 稳定性:可达0.1% 测试器:最小孔径达0.1mm 技术联系人:李工 点击查看>> 到货后需由有检测资质的第 * 方标检合格。

询价产品明细

产品名称 * 级类目 * 级类目 * 级类目产品标准型号型号可替代规格质量等级封装形式产品批次备注采购数量最少供应量到货日期运输方式到站地点制造商
X荧光镀层测厚仪通用设备仪器仪表光学仪器行标Thick * ...Thick * ...1(台)1(台)


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