半导体器件电学性能测试台采购

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半导体器件电学性能测试台采购




发布时间: 点击查看>> * : * : * 截止时间: 点击查看>> * : * : *
基本信息:


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国产含税

增值税普通发票

人民币




发布竞价结果后7天内签约合同

合同签订后7天内送达

免费上门安装(含材料费)





货到验收合格后付款


申购明细:
序号
1
采购内容
半导体器件电学性能测试台
数量
1台
预算单价
点击查看>>
品牌
SEMISHARE
型号
H8
规格参数
尺寸: * mm长* * mm宽* * mm高; 8寸 卡盘,采用多孔吸附固定样品,每个真空通道均独立控制; 卡盘角度可旋转微调,调节精度不小于0. * °; (略) 吸附孔为1mm直径,可以根据客户要求定制; 卡盘平整度: 5μm, 标准卡盘可 * 度无间隙旋转,带有角度锁死装置; 卡盘X/Y轴采用舒适大手柄旋转控制 ,行程:8英寸X 8英寸,每个轴均带锁定旋钮; 卡盘X/Y轴移动可以采用快速移动或者微调移动方式以应 (略) 景; 微调移动模式下:卡盘X/Y轴为无间隙移动,移动精度1μm, (略) 进为2mm; 卡盘电学独立悬空,带香蕉头插口,可以作为背电极使用; 可调节显微镜在 X-Y 平面2" x 2" 范围内移动,精度1微米(系统不包含显微镜); 显微镜气动升降 * mm,便于更换物镜(需要压缩空气); 探针平台可以快速升降,可选择3mm和 * um 两档; 探针平台可以上下微调,行程 * mm,升降精度1μm; 探针平台升降调节功能适合加装探针卡 ,便于针卡重新定位,快速切换芯片测试; 同轴屏蔽卡盘,带接地屏蔽,配有BNC母接口; 8英寸 卡盘,采用多孔吸附固定样品,每个真空通道均独立控制 ,1.中央吸附孔 2. * 英寸盘面 3. * 英寸盘面 4. * 英寸盘面; 含配套2个配套探针座:移动精度0.7 微米以内
质保及售后服务
按行业标准提供服务



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H8
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尺寸: * mm长* * mm宽* * mm高; 8寸 卡盘,采用多孔吸附固定样品,每个真空通道均独立控制; 卡盘角度可旋转微调,调节精度不小于0. * °; (略) 吸附孔为1mm直径,可以根据客户要求定制; 卡盘平整度: 5μm, 标准卡盘可 * 度无间隙旋转,带有角度锁死装置; 卡盘X/Y轴采用舒适大手柄旋转控制 ,行程:8英寸X 8英寸,每个轴均带锁定旋钮; 卡盘X/Y轴移动可以采用快速移动或者微调移动方式以应 (略) 景; 微调移动模式下:卡盘X/Y轴为无间隙移动,移动精度1μm, (略) 进为2mm; 卡盘电学独立悬空,带香蕉头插口,可以作为背电极使用; 可调节显微镜在 X-Y 平面2" x 2" 范围内移动,精度1微米(系统不包含显微镜); 显微镜气动升降 * mm,便于更换物镜(需要压缩空气); 探针平台可以快速升降,可选择3mm和 * um 两档; 探针平台可以上下微调,行程 * mm,升降精度1μm; 探针平台升降调节功能适合加装探针卡 ,便于针卡重新定位,快速切换芯片测试; 同轴屏蔽卡盘,带接地屏蔽,配有BNC母接口; 8英寸 卡盘,采用多孔吸附固定样品,每个真空通道均独立控制 ,1.中央吸附孔 2. * 英寸盘面 3. * 英寸盘面 4. * 英寸盘面; 含配套2个配套探针座:移动精度0.7 微米以内
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