半导体综合电学性能测试仪

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半导体综合电学性能测试仪

基本信息

项目编号中大招（货）[2022]1467号
项目名称中山 (略) 半导体综合电学性能测试仪采购项目
项目类型货物采购申购主题半导体综合电学性能测试仪采购单位中山大学
项目预算采购开始时间** 21:39采购结束时间** 09:00是否送货是
期望收货时间合同签订后150天交货经办人刘老师经办人电话020-*
送货地址深圳校区
电子签章本项目需要使用CA签字CA操作手册下载
备注1、本项目国内货物部分：含税人民币报价的付款方式按“ 中山大学国内采购合同（通用货物类）-适用于设备改造专项”的“4.付款及结算方式 4.1.3 分期结算（适用于货物总金额在学校分散采购限额标准以上）”；境外供货部分：付款方式按《中山大学进口货物采购合同》的“1.3付款方式 （2）通过中山大学网上竞价系统以外方式采购的进口货物”，加征关税及进口代理费用由*方支付。 (略) 必须有境外人民币收款账户。2、进口货物中如有国内供货部分，供应商在报价时应分别报价，境外供货部分、国内供货部分的币种选择见第1条，并分别签订进口货物购销协议和国内采购合同。3、本项目学校不收取任何费用。4、本项目采用数字证书，请供应商根据指引 http://**）提前办理CA证书。5、技术参数中标注有“★”号的条款必须实质性响应，负偏离（不满足要求）将导致报价无效。

设备列表

采购设备数量参考品牌详细响应要求
半导体综合电学性能测试仪1台详情请进入系统查看
"半导体综合电学性能测试仪"技术要求
序号技术要求内容评分等级是否需要附件说明
1 主机参数：1.1 实现功能：在可控温场下可同步测量半导体材料的塞贝克系数和电阻率。气氛：高纯氦气。 重要 否
2 ★1.2 塞贝克系数测量精度：≤±7%； 塞贝克系数测量方法：静态直流方式；测量导线：铂金线。 非常重要 是
3 ★1.3 电阻测量测量精度：≤±7%；电阻测量方法：四点法方式；电阻率测量导线：铂金线。 非常重要 是
4 1.4温度梯度设定值：1℃～50℃。控制方法：比例积分和微分控制方式； 重要 否
5 1.4 红外线加热炉：材质：镀金抛物面铝合金及以上；温度范围：室温～1000℃；加热区长≥140mm, 总长≥230mm； 非常重要 是
6 1.5 样品尺寸：可测直径或方形截面2mm～4mm，长度6mm～22mm的样品。探针测试间距：4mm、6mm、8mm三种。 重要 否
7 2.测量温度点可设置数量：≥125个点。温度控制点：样品气氛温度和样品两面温度差。2.3控制热电偶：加热炉温度控制：R型热电偶；温差控制：K型热电偶。 非常重要 是
8 3、电器控制单元3.1数字多功能测试仪：检测上下端加热区的温度信号和两个电极间的电压差信号。 重要 否
9 4、气氛控制单元4.1 配备机械泵，可使得主体达到所需真空度。4.2 机械泵：速度≥20L/min。 重要 否
10 5、带有Windows10平台的工作站控制单元与显示器。测量条件输入：电阻率测试的电流设置：手动和自动两种方式；电阻率测量法：极性反转/阶跃；电流设置：可通过V-I曲线获取电阻率测量最优电流； 重要 否
11 5.3 数据分析功能至少包含：塞贝克系数、电阻率、功率因子的计算及其图形显示； 重要 否
12 5.4 电阻率测量重分析功能：可通过在软件修改样品形状、尺寸和探针间距进行重分析； 非常重要 是
13 6、薄膜附件：配有两套专门的薄膜适配器支架可测试薄膜样品。 非常重要 是
14 配置清单：1、半导体电学性能测试仪， 1台，包括：主体、程序控温单元、电器控制单位、气氛控制单元、数据处理单元；2、循环水冷机，1台。 重要 否

基本信息

项目编号中大招（货）[2022]1467号
项目名称中山 (略) 半导体综合电学性能测试仪采购项目
项目类型货物采购申购主题半导体综合电学性能测试仪采购单位中山大学
项目预算采购开始时间** 21:39采购结束时间** 09:00是否送货是
期望收货时间合同签订后150天交货经办人刘老师经办人电话020-*
送货地址深圳校区
电子签章本项目需要使用CA签字CA操作手册下载
备注1、本项目国内货物部分：含税人民币报价的付款方式按“ 中山大学国内采购合同（通用货物类）-适用于设备改造专项”的“4.付款及结算方式 4.1.3 分期结算（适用于货物总金额在学校分散采购限额标准以上）”；境外供货部分：付款方式按《中山大学进口货物采购合同》的“1.3付款方式 （2）通过中山大学网上竞价系统以外方式采购的进口货物”，加征关税及进口代理费用由*方支付。 (略) 必须有境外人民币收款账户。2、进口货物中如有国内供货部分，供应商在报价时应分别报价，境外供货部分、国内供货部分的币种选择见第1条，并分别签订进口货物购销协议和国内采购合同。3、本项目学校不收取任何费用。4、本项目采用数字证书，请供应商根据指引 http://**）提前办理CA证书。5、技术参数中标注有“★”号的条款必须实质性响应，负偏离（不满足要求）将导致报价无效。

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采购设备数量参考品牌详细响应要求
半导体综合电学性能测试仪1台详情请进入系统查看
"半导体综合电学性能测试仪"技术要求
序号技术要求内容评分等级是否需要附件说明
1 主机参数：1.1 实现功能：在可控温场下可同步测量半导体材料的塞贝克系数和电阻率。气氛：高纯氦气。 重要 否
2 ★1.2 塞贝克系数测量精度：≤±7%； 塞贝克系数测量方法：静态直流方式；测量导线：铂金线。 非常重要 是
3 ★1.3 电阻测量测量精度：≤±7%；电阻测量方法：四点法方式；电阻率测量导线：铂金线。 非常重要 是
4 1.4温度梯度设定值：1℃～50℃。控制方法：比例积分和微分控制方式； 重要 否
5 1.4 红外线加热炉：材质：镀金抛物面铝合金及以上；温度范围：室温～1000℃；加热区长≥140mm, 总长≥230mm； 非常重要 是
6 1.5 样品尺寸：可测直径或方形截面2mm～4mm，长度6mm～22mm的样品。探针测试间距：4mm、6mm、8mm三种。 重要 否
7 2.测量温度点可设置数量：≥125个点。温度控制点：样品气氛温度和样品两面温度差。2.3控制热电偶：加热炉温度控制：R型热电偶；温差控制：K型热电偶。 非常重要 是
8 3、电器控制单元3.1数字多功能测试仪：检测上下端加热区的温度信号和两个电极间的电压差信号。 重要 否
9 4、气氛控制单元4.1 配备机械泵，可使得主体达到所需真空度。4.2 机械泵：速度≥20L/min。 重要 否
10 5、带有Windows10平台的工作站控制单元与显示器。测量条件输入：电阻率测试的电流设置：手动和自动两种方式；电阻率测量法：极性反转/阶跃；电流设置：可通过V-I曲线获取电阻率测量最优电流； 重要 否
11 5.3 数据分析功能至少包含：塞贝克系数、电阻率、功率因子的计算及其图形显示； 重要 否
12 5.4 电阻率测量重分析功能：可通过在软件修改样品形状、尺寸和探针间距进行重分析； 非常重要 是
13 6、薄膜附件：配有两套专门的薄膜适配器支架可测试薄膜样品。 非常重要 是
14 配置清单：1、半导体电学性能测试仪， 1台，包括：主体、程序控温单元、电器控制单位、气氛控制单元、数据处理单元；2、循环水冷机，1台。 重要 否

    
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