椭偏仪竞价项目
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椭偏仪竞价项目
| 项目号 | HW* | ||||||||||||||||||
| 设备品目类别 | 仪器设备 | 设备用途 | 教学 | ||||||||||||||||
| 竞价开始时间 | ** 16:09:45 | 竞价结束时间 | ** 17:38:00 | ||||||||||||||||
| 商品名称 | 椭偏仪 | 品牌/厂家 | 北京量拓 | ||||||||||||||||
| 型号 | EX2 | 数量 | 1 | ||||||||||||||||
| 计量单位 | 台 | 成交单价 | 60000.00元 | ||||||||||||||||
| 成交供应商 | (略) | 保修年限 | 1年 | ||||||||||||||||
| 技术指标 | PCSA 结构（P-起偏器；C-补偿器； S-样品；A-分析器）（Δ 范围为 0-360°）波长 635nm（半导体激光器）入射角 30°-90°，精度 0.05°测量重复性 对 Si 上 100 nm 的 SiO2样品，膜厚重复性：0.5 nm 膜厚测量范围 透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜则与材料性质相关折射率范围 1.3 – 10 偏振器最小步进角 0.014°偏振器方位角范围 0-360°载物台 圆形样品直径Φ120mm，矩形样品可达 120mm x 160mm 样品方位调整 Z 轴高度调节：16mm；二维俯仰调节：±4°测量原理 消光法光源 半导体激光器（635nm）可选：He-Ne 激光器（632.8nm）偏振器件 高质量的偏振器件，计算机高精度控制测量光斑 手动调节光斑直径，2－3 mm 样品放置方式 水平放置控制器 一体式机箱，含电路板、控制单元、电源输出设备 软件界面支持输出、输入光谱数据软件:界面语言 中文界面布局 导引式设计，方便学习测量原理及过程测量模式 预设多个测量项目，初学者可方便应用测量 自动设置光学组件方位角；测量消光角测量结果输出： ? 椭偏角?，?及其相关的其它输出形式 | ||||||||||||||||||
| 安装及售后要求 | 1、原厂原装。2.服务支持:售后服务标准必须与 (略) 场标准服务一致。 | ||||||||||||||||||
| 附件 | 无 | ||||||||||||||||||
| 项目号 | HW* | ||||||||||||||||||
| 设备品目类别 | 仪器设备 | 设备用途 | 教学 | ||||||||||||||||
| 竞价开始时间 | ** 16:09:45 | 竞价结束时间 | ** 17:38:00 | ||||||||||||||||
| 商品名称 | 椭偏仪 | 品牌/厂家 | 北京量拓 | ||||||||||||||||
| 型号 | EX2 | 数量 | 1 | ||||||||||||||||
| 计量单位 | 台 | 成交单价 | 60000.00元 | ||||||||||||||||
| 成交供应商 | (略) | 保修年限 | 1年 | ||||||||||||||||
| 技术指标 | PCSA 结构（P-起偏器；C-补偿器； S-样品；A-分析器）（Δ 范围为 0-360°）波长 635nm（半导体激光器）入射角 30°-90°，精度 0.05°测量重复性 对 Si 上 100 nm 的 SiO2样品，膜厚重复性：0.5 nm 膜厚测量范围 透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜则与材料性质相关折射率范围 1.3 – 10 偏振器最小步进角 0.014°偏振器方位角范围 0-360°载物台 圆形样品直径Φ120mm，矩形样品可达 120mm x 160mm 样品方位调整 Z 轴高度调节：16mm；二维俯仰调节：±4°测量原理 消光法光源 半导体激光器（635nm）可选：He-Ne 激光器（632.8nm）偏振器件 高质量的偏振器件，计算机高精度控制测量光斑 手动调节光斑直径，2－3 mm 样品放置方式 水平放置控制器 一体式机箱，含电路板、控制单元、电源输出设备 软件界面支持输出、输入光谱数据软件:界面语言 中文界面布局 导引式设计，方便学习测量原理及过程测量模式 预设多个测量项目，初学者可方便应用测量 自动设置光学组件方位角；测量消光角测量结果输出： ? 椭偏角?，?及其相关的其它输出形式 | ||||||||||||||||||
| 安装及售后要求 | 1、原厂原装。2.服务支持:售后服务标准必须与 (略) 场标准服务一致。 | ||||||||||||||||||
| 附件 | 无 | ||||||||||||||||||
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