中南大学-竞价公告(CB119422023000811)
中南大学-竞价公告(CB119422023000811)
申购单号:CB*
申购主题:光谱椭偏仪
采购单位:中南大学
报价要求:
发票类型:增值税专用发票
币种:人民币
预算:
签约时间:发布中标结果后7天内签约合同
送货时间:发布竞价结果后7天内送达
安装要求:免费上门安装(含材料费)
收货地址: (略) / (略) /岳麓区/点击查看>>*
付款方式:货到验收合格后付款
备注说明:申购明细:
序号 | 采购内容 | 数量 | 预算单价 |
1 | 光谱椭偏仪 | 1.0 | |
品牌 | 武汉颐光 | ||
型号 | SE-VE-L | ||
规格参数 | 1.测量能力:一次性获取Psi/Delta, NCS偏振信息以及薄膜n/k/d信息等2.光谱范围:400-1000nm(覆盖可见光到近红外波段),无光纤外接设计3.光谱分辨率:<0.*@*00-1000nm,CCD探测器光谱采集波长间隔4.测量偏振参数:Psi:0-90°,Delta:-90-270°,360度无死角5.单点测量时间:不超过12s (可设置)6.光斑尺寸:1-4mm(椭圆光斑短轴直径)7.可视化调平系统:支持样件台可视化辅助对准调平8.调制技术:旋转补偿器PCrSA调制技术9.样品台:支持0-10mm,Z向找焦,俯仰可调,支持样件尺寸到Ф200mm10.膜厚重复性测量精度:优于0.005nm (100nm SiO2硅片,30次重复测量)11.折射率重复精度:0.0005(*@*32.8nm,100nmSiO2硅片,30次重复测量)12.分析软件:必须支持周期性纳米光栅结构样件数据建模分析,多达数百种的光学材料常数数据库,并支持用户自定义光学材料库;具备折射率梯度分布Grade建模,光学各向异性Anisotropic建模仿真与分析功能,支持至少5个授权软件许可13.测控分析电脑: CPU:≥双核心处理器;RAM:8G;ROM:1T;显示器:19寸,;windows操作系统 | ||
质保及售后服务 | 按行业标准提供服务 |
申购单号:CB*
申购主题:光谱椭偏仪
采购单位:中南大学
报价要求:
发票类型:增值税专用发票
币种:人民币
预算:
签约时间:发布中标结果后7天内签约合同
送货时间:发布竞价结果后7天内送达
安装要求:免费上门安装(含材料费)
收货地址: (略) / (略) /岳麓区/点击查看>>*
付款方式:货到验收合格后付款
备注说明:申购明细:
序号 | 采购内容 | 数量 | 预算单价 |
1 | 光谱椭偏仪 | 1.0 | |
品牌 | 武汉颐光 | ||
型号 | SE-VE-L | ||
规格参数 | 1.测量能力:一次性获取Psi/Delta, NCS偏振信息以及薄膜n/k/d信息等2.光谱范围:400-1000nm(覆盖可见光到近红外波段),无光纤外接设计3.光谱分辨率:<0.*@*00-1000nm,CCD探测器光谱采集波长间隔4.测量偏振参数:Psi:0-90°,Delta:-90-270°,360度无死角5.单点测量时间:不超过12s (可设置)6.光斑尺寸:1-4mm(椭圆光斑短轴直径)7.可视化调平系统:支持样件台可视化辅助对准调平8.调制技术:旋转补偿器PCrSA调制技术9.样品台:支持0-10mm,Z向找焦,俯仰可调,支持样件尺寸到Ф200mm10.膜厚重复性测量精度:优于0.005nm (100nm SiO2硅片,30次重复测量)11.折射率重复精度:0.0005(*@*32.8nm,100nmSiO2硅片,30次重复测量)12.分析软件:必须支持周期性纳米光栅结构样件数据建模分析,多达数百种的光学材料常数数据库,并支持用户自定义光学材料库;具备折射率梯度分布Grade建模,光学各向异性Anisotropic建模仿真与分析功能,支持至少5个授权软件许可13.测控分析电脑: CPU:≥双核心处理器;RAM:8G;ROM:1T;显示器:19寸,;windows操作系统 | ||
质保及售后服务 | 按行业标准提供服务 |
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