北京科技大学FIB制样FIB平面制样测试服务单一来源采购公示新材料李成明45.1万-采招网

北京科技大学FIB制样FIB平面制样测试服务单一来源采购公示新材料李成明45.1万

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北京科技大学FIB制样FIB平面制样测试服务单一来源采购公示新材料李成明45.1万

USTB-DY-* 北京科技大学FIB制样FIB平面制样TALOS-STEMD-SIMS测试服务单一来源采购公示（新材料李成明 45.1万 6.30-7.4）

发布单位 : 点击：[]

北京科技大学货物与服务单一来源采购公示内容

采购项目	FIB制样FIB平面制样TALOS-STEMD-SIMS等测试合同		采购项目负责人	李成明
拟采购货物或服务的详细说明	利用透射电镜进行位错分析，利用SIMS进行氮杂质的量化分析，利用XRT进行空洞位错分析，AFM表面电容进行表面抛光后的特征分析，PL谱进行杂质形态分析。
单一来源采购原因及相关说明	江苏第三代 (略) （以 (略) ）是2019年7月注册于苏州工业园区，2021年4月科技部函复批准“国家第三代半导体技术创新中心”建设。是目前国内最具权威的晶体材料分析机构，手段齐全，特别是SIMS分析方法，是国内唯一的一个能够正常运行的装备，在晶体缺陷观察方面，特别是透射制样位错观察，是国内最高水平。
拟成交供应商	名称：江苏第三代 (略)
	地址： (略) 苏州工业园区金鸡湖大道99号
公示期限	2023年6月30日至2023年7月4日（不少于5个日历日）
招采中心联系方式	联系地址： (略) (略) 路30号北京科技大学招标与采购管理中心货物与服务采购科（办公楼106室）
	联系人：秦老师	联系电话：010-*

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北京科技大学货物与服务单一来源采购公示内容

采购项目	FIB制样FIB平面制样TALOS-STEMD-SIMS等测试合同		采购项目负责人	李成明
拟采购货物或服务的详细说明	利用透射电镜进行位错分析，利用SIMS进行氮杂质的量化分析，利用XRT进行空洞位错分析，AFM表面电容进行表面抛光后的特征分析，PL谱进行杂质形态分析。
单一来源采购原因及相关说明	江苏第三代 (略) （以 (略) ）是2019年7月注册于苏州工业园区，2021年4月科技部函复批准“国家第三代半导体技术创新中心”建设。是目前国内最具权威的晶体材料分析机构，手段齐全，特别是SIMS分析方法，是国内唯一的一个能够正常运行的装备，在晶体缺陷观察方面，特别是透射制样位错观察，是国内最高水平。
拟成交供应商	名称：江苏第三代 (略)
	地址： (略) 苏州工业园区金鸡湖大道99号
公示期限	2023年6月30日至2023年7月4日（不少于5个日历日）
招采中心联系方式	联系地址： (略) (略) 路30号北京科技大学招标与采购管理中心货物与服务采购科（办公楼106室）
	联系人：秦老师	联系电话：010-*

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