椭偏仪采购
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椭偏仪采购
| 项目名称 | 椭偏仪 | 项目编号 | GY* |
|---|---|---|---|
| 公告开始日期 | 2023-11-03 09:30:50 | 公告截止日期 | 2023-11-08 10:00:00 |
| 采购单位 | (略) | 付款方式 | 货到验收合格后付款 |
| 联系人 | 成交后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 成交后在我参与的项目中查看 |
| 签约时间要求 | 成交后10个工作日内 | 到货时间要求 | 签订合同后60天 |
| 预算总价 | ￥ *.00 | ||
| 发票要求 | |||
| 收货地址 | (略) 山大南路27号山东大学中心 (略) 知新楼C412 | ||
| 供应商资质要求 | 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 | ||
| 采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
|---|---|---|---|
| 椭偏仪 | 1 | 台 | 物理光学仪器 |
| 品牌 | 武汉颐光 |
|---|---|
| 型号 | SE-VM-L |
| 预算单价 | ￥ *.00 |
| 技术参数及配置要求 | 1) 测量能力：一次性获得全穆勒矩阵 16 个元素（m11 归一化，8 组 rpp, rss 主对 角 偏振元素，8 组 rpp, rps 辅对角偏振元素）、Psi/Delta（其中 Delta 值域：-90-270°， 360 度无死角）、反射率/透射率、全波段退偏指数等光谱; 2) 光谱范围：210-1000nm ; 3) 光谱分辨率：< 0.*@*80-1000nm ； 4) 单点测量时间：不超过 15 秒（支持自定义设置）； 5) 光斑尺寸：大光斑＜1-4mm； 6) 样件台调平系统：支持样件台可视化辅助对准调平； 7) 调制技术：超级消色差波片双旋转 PCr1SCr2A 调制技术； 8) 入射角范围：45-90°, 5°步进； 9) 样品台：支持 Z 向、俯仰可调，支持样件尺寸到Ф200mm 真空吸附固定测量； 10) 膜厚重复性测量精度：优于 0.005nm （100nm SiO2 硅片，30 次重复测量）； 11) 折射率重复性精度：优于 0.0002 @632.8nm，100nm SiO2 硅片，30 次测量； 12) 椭偏绝对精度：椭偏参数优于：Ψ=45±0.05°，Δ=0±0.1°；穆勒矩阵优于：8 组 非对角元素 m=0±0.005（直通测量，所有测量波长点的 90%满足）； 13) 退偏指数 Depolarization：优于±0.5%（测量裸硅，全波段 90%满足） 14) 测控分析电脑：CPU：Intel core i 系列，RAM：≥8G，ROM：≥1T，显示器：≥19 寸，windows 操作系统。 |
| 售后服务 | 服务网点:不限;质保期限:1年;响应期限:报修后48小时; |
2023-11-03 09:30:50
| 项目名称 | 椭偏仪 | 项目编号 | GY* |
|---|---|---|---|
| 公告开始日期 | 2023-11-03 09:30:50 | 公告截止日期 | 2023-11-08 10:00:00 |
| 采购单位 | (略) | 付款方式 | 货到验收合格后付款 |
| 联系人 | 成交后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 成交后在我参与的项目中查看 |
| 签约时间要求 | 成交后10个工作日内 | 到货时间要求 | 签订合同后60天 |
| 预算总价 | ￥ *.00 | ||
| 发票要求 | |||
| 收货地址 | (略) 山大南路27号山东大学中心 (略) 知新楼C412 | ||
| 供应商资质要求 | 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 | ||
| 采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
|---|---|---|---|
| 椭偏仪 | 1 | 台 | 物理光学仪器 |
| 品牌 | 武汉颐光 |
|---|---|
| 型号 | SE-VM-L |
| 预算单价 | ￥ *.00 |
| 技术参数及配置要求 | 1) 测量能力：一次性获得全穆勒矩阵 16 个元素（m11 归一化，8 组 rpp, rss 主对 角 偏振元素，8 组 rpp, rps 辅对角偏振元素）、Psi/Delta（其中 Delta 值域：-90-270°， 360 度无死角）、反射率/透射率、全波段退偏指数等光谱; 2) 光谱范围：210-1000nm ; 3) 光谱分辨率：< 0.*@*80-1000nm ； 4) 单点测量时间：不超过 15 秒（支持自定义设置）； 5) 光斑尺寸：大光斑＜1-4mm； 6) 样件台调平系统：支持样件台可视化辅助对准调平； 7) 调制技术：超级消色差波片双旋转 PCr1SCr2A 调制技术； 8) 入射角范围：45-90°, 5°步进； 9) 样品台：支持 Z 向、俯仰可调，支持样件尺寸到Ф200mm 真空吸附固定测量； 10) 膜厚重复性测量精度：优于 0.005nm （100nm SiO2 硅片，30 次重复测量）； 11) 折射率重复性精度：优于 0.0002 @632.8nm，100nm SiO2 硅片，30 次测量； 12) 椭偏绝对精度：椭偏参数优于：Ψ=45±0.05°，Δ=0±0.1°；穆勒矩阵优于：8 组 非对角元素 m=0±0.005（直通测量，所有测量波长点的 90%满足）； 13) 退偏指数 Depolarization：优于±0.5%（测量裸硅，全波段 90%满足） 14) 测控分析电脑：CPU：Intel core i 系列，RAM：≥8G，ROM：≥1T，显示器：≥19 寸，windows 操作系统。 |
| 售后服务 | 服务网点:不限;质保期限:1年;响应期限:报修后48小时; |
2023-11-03 09:30:50
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