原位电化学界面分析系统设备采购

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原位电化学界面分析系统设备采购


原位电化学界面分析系统设备采购（HITJJ-2023000083）采购公告
发布时间：2023-12-12 07:30:18阅读量：10 次

项目名称原位电化学界面分析系统设备采购项目编号HITJJ-*
公告开始日期2023-12-12 07:30:18公告截止日期2023-12-15 08:00:00
采购单位哈尔滨工业大学付款方式一次付清
联系人成交后在我参与的项目中查看联系电话成交后在我参与的项目中查看
签约时间要求到货时间要求
预算总价￥ *.00
发票要求
收货地址哈工大指定地点
供应商资质要求

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件




采购清单1
采购商品采购数量计量单位所属分类
原位电化学界面分析系统1台无

品牌Horiba
型号SmartSPM
预算单价￥ *.00
技术参数及配置要求1.1.1 具备完整的形貌学、电学、力学等测量功能；
1.1.2 具备稳定的原子级、分子级分辨能力;
2 项目清单
3 项目要求：
本项目允许采购进口产品。
3.1 技术要求
3.1.1 设备总体要求及工作条件
3.1.1.1 设备必须具有技术成熟、结构合理、操作界面友好、易操作、安全可靠、便于维护及美观；
3.1.1.2 设备应具备功能扩展和软件升级功能；
3.1.1.3 设备兼容千级及更高级别超净间；
3.1.1.4 投标人须提供设备外形尺寸、占地面积、安装条件等指标；
3.1.1.5 电源适用于中国制式，两相或三相，频率50/60Hz下工作。
3.1.2 设备总体配置
3.1.2.1 扫描探针显微镜主机 1台；
3.1.2.2 高分辨成像专用AFM测试头 1套；
3.1.2.3 高速闭环平板扫描器 1套；
3.1.2.4 自动XY平台 1套；
3.1.2.5 全自动反馈激光--探测准直器 1套；
3.1.2.6 ≥1300nm近红外AFM反馈激光器 1套；
3.1.2.7 XYZ步进马达（自动样品台）1套
3.1.2.8 彩色摄像头 1套；
3.1.2.9 多模式AFM针尖包 1套；
3.1.2.10 仪器控制与软件系统（计算机） 1套；
3.1.2.11 仪器专用工具包 1套。
3.2 仪器技术参数
3.2.1.1 modulation mode）
3.2.1.2 抬高模式（Two-pass scan）
3.2.1.3 纳米刻蚀 (Nanolithography)
3.2.1.4 纳米操纵 (Nanomanipulation)
3.2.2 高精度测量头
3.2.2.1 ★系统噪声：≤0.03nm RMS
3.2.2.2 ★反馈激光≥1300nm。独立AFM反馈激光光路，反馈激光不允许穿过任何其它光谱激发物镜。允许可见及近红外区域的拉曼，荧光或近场成像测量
3.2.2.3 ★软件操作“反馈激光—悬臂梁”快速全自动准直，无需手动调整
3.2.2.4 ★更换探针操作简单，无需从系统上移除AFM测量头，无需移动样品
3.2.2.5 可以配备NA值为0.28/0.42物镜，耦合共聚焦拉曼光谱仪，实现AFM-Raman同区域测量和针尖增强拉曼信号采集
3.2.2.6 可以兼容液体环境成像功能；
3.2.3 多模式针尖包
3.2.3.1 非接触和轻敲模式探针，悬臂背面镀有反射层 15根；
3.2.3.2 AFM探针用于开尔文，导电AFM，静电力，有镀层 15根；
3.2.3.3 磁力显微镜探针 15根。
二、售后服务：
1．整机保修期一年（不包括易耗品），在保修期内，任何由制造商选材和制造不当引起的质量问题，厂家负责免费维修。保修期后，厂家提供终身维修，并保证零配件的供应。
2．安装、培训：厂家将负责在用户单位安装与调试，并进行操作演示、数据处理等培训。
★三，供应商需提供制造商授权书
四 ★条款必须满足，否则报价无效。

哈尔滨工业大学招标与采购管理中心

2023-12-12 07:30:18


原位电化学界面分析系统设备采购（HITJJ-2023000083）采购公告
发布时间：2023-12-12 07:30:18阅读量：10 次

项目名称原位电化学界面分析系统设备采购项目编号HITJJ-*
公告开始日期2023-12-12 07:30:18公告截止日期2023-12-15 08:00:00
采购单位哈尔滨工业大学付款方式一次付清
联系人成交后在我参与的项目中查看联系电话成交后在我参与的项目中查看
签约时间要求到货时间要求
预算总价￥ *.00
发票要求
收货地址哈工大指定地点
供应商资质要求

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件




采购清单1
采购商品采购数量计量单位所属分类
原位电化学界面分析系统1台无

品牌Horiba
型号SmartSPM
预算单价￥ *.00
技术参数及配置要求1.1.1 具备完整的形貌学、电学、力学等测量功能；
1.1.2 具备稳定的原子级、分子级分辨能力;
2 项目清单
3 项目要求：
本项目允许采购进口产品。
3.1 技术要求
3.1.1 设备总体要求及工作条件
3.1.1.1 设备必须具有技术成熟、结构合理、操作界面友好、易操作、安全可靠、便于维护及美观；
3.1.1.2 设备应具备功能扩展和软件升级功能；
3.1.1.3 设备兼容千级及更高级别超净间；
3.1.1.4 投标人须提供设备外形尺寸、占地面积、安装条件等指标；
3.1.1.5 电源适用于中国制式，两相或三相，频率50/60Hz下工作。
3.1.2 设备总体配置
3.1.2.1 扫描探针显微镜主机 1台；
3.1.2.2 高分辨成像专用AFM测试头 1套；
3.1.2.3 高速闭环平板扫描器 1套；
3.1.2.4 自动XY平台 1套；
3.1.2.5 全自动反馈激光--探测准直器 1套；
3.1.2.6 ≥1300nm近红外AFM反馈激光器 1套；
3.1.2.7 XYZ步进马达（自动样品台）1套
3.1.2.8 彩色摄像头 1套；
3.1.2.9 多模式AFM针尖包 1套；
3.1.2.10 仪器控制与软件系统（计算机） 1套；
3.1.2.11 仪器专用工具包 1套。
3.2 仪器技术参数
3.2.1.1 modulation mode）
3.2.1.2 抬高模式（Two-pass scan）
3.2.1.3 纳米刻蚀 (Nanolithography)
3.2.1.4 纳米操纵 (Nanomanipulation)
3.2.2 高精度测量头
3.2.2.1 ★系统噪声：≤0.03nm RMS
3.2.2.2 ★反馈激光≥1300nm。独立AFM反馈激光光路，反馈激光不允许穿过任何其它光谱激发物镜。允许可见及近红外区域的拉曼，荧光或近场成像测量
3.2.2.3 ★软件操作“反馈激光—悬臂梁”快速全自动准直，无需手动调整
3.2.2.4 ★更换探针操作简单，无需从系统上移除AFM测量头，无需移动样品
3.2.2.5 可以配备NA值为0.28/0.42物镜，耦合共聚焦拉曼光谱仪，实现AFM-Raman同区域测量和针尖增强拉曼信号采集
3.2.2.6 可以兼容液体环境成像功能；
3.2.3 多模式针尖包
3.2.3.1 非接触和轻敲模式探针，悬臂背面镀有反射层 15根；
3.2.3.2 AFM探针用于开尔文，导电AFM，静电力，有镀层 15根；
3.2.3.3 磁力显微镜探针 15根。
二、售后服务：
1．整机保修期一年（不包括易耗品），在保修期内，任何由制造商选材和制造不当引起的质量问题，厂家负责免费维修。保修期后，厂家提供终身维修，并保证零配件的供应。
2．安装、培训：厂家将负责在用户单位安装与调试，并进行操作演示、数据处理等培训。
★三，供应商需提供制造商授权书
四 ★条款必须满足，否则报价无效。

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2023-12-12 07:30:18

    
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