晶圆形貌仪采购
晶圆形貌仪采购
项目名称 | 晶圆形貌仪采购项目 | 项目编号 | XHGD-CG-* |
---|---|---|---|
公告开始日期 | 2024-05-09 16:22:30 | 公告截止日期 | 2024-05-14 18:00:00 |
采购单位 | 西湖大 (略) | 付款方式 | 预付30%,验收合格且拿到全款发票后付70% |
联系人 | 成交后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 成交后在我参与的项目中查看 |
签约时间要求 | 成交后30工作日 | 到货时间要求 | 签约后60个自然日 |
预算总价 | ¥ *.00 | ||
发票要求 | 增值税普通发票 | ||
收货地址 | (略) 西湖区石龙山街18号西湖大学云栖校区 | ||
供应商资质要求 | 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 |
采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
---|---|---|---|
晶圆形貌仪 | 1 | 台 | 无 |
预算单价 | ¥ *.00 |
---|---|
技术参数及配置要求 | 1.光谱共聚焦系统:适用于切割片,研磨片,抛光片等不同阶段。 2. (略) :支持6/8寸晶圆,自带标定片模块。 3. 计算机系统:含检测软件系统;含数据库管理系统;支持PDF报告和Excel报告导出;支持批次刻字号excel批量导入功能; (略) 络端口进行数据上传;支持SECS/GEM协议。 4. 检测内容:厚度,BOW,TTV,WARP,LTV。 5. 检测速度:≥ 30片/小时。 6. 检测重复性: 厚度测量重复性:+/-0.1um; BOW测量重复性:+/-0.3um; TTV测量重复性:+/-0.5um; Warp测量重复性:+/-0.5um; LTV测量重复性:+/-0.2um。 7.相关性(对标FRT): THICKNESS>99%; WARP >95%; BOW>95%; TTV>90%; LTV>90%。 |
售后服务 | 质保期:一年; |
2024-05-09 16:22:30
项目名称 | 晶圆形貌仪采购项目 | 项目编号 | XHGD-CG-* |
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公告开始日期 | 2024-05-09 16:22:30 | 公告截止日期 | 2024-05-14 18:00:00 |
采购单位 | 西湖大 (略) | 付款方式 | 预付30%,验收合格且拿到全款发票后付70% |
联系人 | 成交后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 成交后在我参与的项目中查看 |
签约时间要求 | 成交后30工作日 | 到货时间要求 | 签约后60个自然日 |
预算总价 | ¥ *.00 | ||
发票要求 | 增值税普通发票 | ||
收货地址 | (略) 西湖区石龙山街18号西湖大学云栖校区 | ||
供应商资质要求 | 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 |
采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
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晶圆形貌仪 | 1 | 台 | 无 |
预算单价 | ¥ *.00 |
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技术参数及配置要求 | 1.光谱共聚焦系统:适用于切割片,研磨片,抛光片等不同阶段。 2. (略) :支持6/8寸晶圆,自带标定片模块。 3. 计算机系统:含检测软件系统;含数据库管理系统;支持PDF报告和Excel报告导出;支持批次刻字号excel批量导入功能; (略) 络端口进行数据上传;支持SECS/GEM协议。 4. 检测内容:厚度,BOW,TTV,WARP,LTV。 5. 检测速度:≥ 30片/小时。 6. 检测重复性: 厚度测量重复性:+/-0.1um; BOW测量重复性:+/-0.3um; TTV测量重复性:+/-0.5um; Warp测量重复性:+/-0.5um; LTV测量重复性:+/-0.2um。 7.相关性(对标FRT): THICKNESS>99%; WARP >95%; BOW>95%; TTV>90%; LTV>90%。 |
售后服务 | 质保期:一年; |
2024-05-09 16:22:30
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